E S P A Ñ O L
Para obtener lecturas con precisión en mediciones
de baja resistencia en un rango de 200 Ω,
provoque un corto circuito en la terminal de
entrada y grabe la lectura obtenida (llame a
esta lectura X). (X) Es la resistencia adicional de
los cables de prueba. Realice la ecuación: valor
de la medición de la resistencia (Y) - (X) = lectura
de medición precisa.
• Para mediciones de alta resistencia (>1M), es
normal tomar algunos segundos para obtener
una lectura estable.
• Cuando la medición de la resistencia se ha
completado, desconecte la conexión de los
cables de prueba y el circuito de prueba.
F.
Diodo y prueba de
continuidad
(Figura 6)
Prueba de Diodos
Advertencia
Para evitar daños en el multímetro o al
mecanismo de prueba, desconecte el
centro de poder y descargue el alto voltaje
de los capacitadores antes de los diodos.
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Use la prueba de diodo para verificar los diodos,
transistores y algún otro mecanismo semiconductor. La
prueba de diodo envía la corriente a través del empalme
del semiconductor y después la medición del voltaje baja
a través del empalme. Un buen empalme de silicón baja
entre 0,5 V y 0,8 V.
Para probar un diodo fuera de un circuito conecte el
multímetro como se indica:
1. Inserte el cable de prueba rojo dentro de la terminal
VΩmA y el cable de prueba negro dentro de la terminal
COM.
2. Coloque el interruptor giratorio en
Figura 6
La medición del diodo se da por default
o presione el botón SELECTOR para
seleccionar el modo de medición de diodo.
3. Para lecturas de descenso de voltaje
hacia delante sobre cualquier componente
semiconductor coloque el cable de
prueba rojo sobre el componente ánodo
y coloque el cable de prueba negro sobre
el componente cátodo. El valor de la
medición se mostrará en el visor.
.