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Idiomas disponibles
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Dati tecnici
6.1
Dati tecnici MSI 4xx
Livello di integrità della sicu-
rezza
Limiti dei requisiti SIL
Categoria
Performance Level (PL)
PFHd (probabilità media di
guasto pericoloso per ora)
T
(Durata di utilizzo)
M
Classe di protezione
Grado di protezione
Temperatura ambiente in
esercizio
Temperatura di immagaz-
zinaggio
Umidità dell'aria
Limite di fatica
Resistenza allo shock
Shock duraturo
Schock singolo
Compatibilità elettromagnetica Classe A (EN 6100062,
Interfaccia dati
Interfaccia di
configurazione 1
Interfaccia di
configurazione 2
Dimensioni (L × H × P)
Morsetti a vite
Morsetti a molla
Peso
Specifiche di collegamento e dei morsetti
Attacco a vite
A un filo o a filo sottile
A filo sottile con manicotti ter-
minali
Coppia di serraggio max
Attacco a molla
A un filo o a filo sottile
A filo sottile con manicotti
terminali
Dimensione
conduttore AWG
(utilizzare solo cavi Cu)
Lunghezza di spellatura
Alimentazione per il sistema (A1, A2)
Tensione di alimentazione
Tipo di tensione di
alimentazione
Consumo di potenza
Attenzione: Il consumo di po-
tenza aumenta con ogni mo-
dulo al quale il sistema viene
collegato.
Tempo di inserzione
Protezione contro
il corto circuito
Alimentazione dei gruppi di uscita B1 e B2
(B2: soltanto MSI 420 / MSI 430)
Tensione di alimentazione
Leuze electronic GmbH + Co. KG
info@leuze.de • www.leuze.com
SIL3 (IEC 61508)
SILCL3 (EN 62061)
Categoria 4 (EN ISO 13849-1)
PL e (EN ISO 13849-1)
MSI Hardware
vedere
,
Cap. Parametri tecnici di sicu-
rezza
20 anni (EN ISO 13849)
III (EN 61140)
IP 20 (EN 60529)
–25 ... +65 °C
–25 ... +70 °C
10...95 %, senza condensa
5 Hz ... 150 Hz (EN 6006826)
10 g, 16 ms (EN 60068-2-29)
30 g, 11 ms (EN 60068-2-27)
EN 55011)
Bus di sicurezza interno
Mini USB
RJ45 (soltanto MSI 420 / MSI
430)
45 × 96,5 × 121 mm
45 × 107 × 121 mm
290 g (± 5%)
1 × 0,2–2,5 mm
2
2 × 0,2–1,0 mm
2
1 × 0,25–2,5 mm² o
2 × 0,25–1,0 mm²
0,5...0,6 Nm (5 - 7 lbf-in)
2 × 0,2 mm² ... 1,5 mm²
2 × 0,25 mm² ... 1,5 mm²
26 - 14 (attacco a vite)
24 - 16 (attacco a molla)
7 mm
24 V DC (16,8 ... 30 V DC)
PELV o SELV
La corrente dell'unità di alimenta-
zione deve essere limitata ester-
namente a max. 4 A, o tramite
l'alimentatore stesso o tramite un
fusibile
Max. 3,3 W
Max. 18 s
4 A gG
24 V DC (16,8 ... 30 V DC)
In der Braike 1 D-73277 Owen
Tel. +49 (0) 7021 573-0
Tipo di tensione di alimenta-
zione
Consumo di potenza
Protezione contro il corto cir-
cuito
Circuito di ingresso
MSI 410: I1 ... I20
MSI 420 / MSI 430: I1 - I16, IQ1 - IQ4
Numero ingressi
MSI 410:
MSI 420 / MSI 430:
Tensione di ingresso HIGH
Tensione di ingresso LOW
Corrente di ingresso HIGH
Corrente di ingresso LOW
Capacità di ingresso
Ingresso corrente di ritorno in
caso di interruzione di massa
Uscite di test (T1 - T4)
Numero di uscite
Tipo di uscita
Tensione di uscita HIGH
Corrente di uscita LOW
Corrente di uscita HIGH
Rapporto impulsi di test (pe-
riodo di test)
Durata impulso di test
(vuoti di test)
Capacità di carico
Resistenza linea
Uscite di sicurezza
MSI 410: I1 – I20
MSI 420 / MSI 430: I1 – I16, IQ1 - IQ4
Uscite
MSI 410:
MSI 420 / MSI 430:
Tipo di uscita
Tensione di uscita HIGH
Corrente di uscita HIGH
Max. corrente di sovracca-
rico / durata
Corrente cumulativa Isum
TU ≤ 45 °C
TU ≤ 55 °C
TU ≤ 65 °C
Test uscite, disattivabile
Larghezza impulsi di prova
Frequenza impulsi di prova
Corrente di dispersione
LOW
Capacità di carico
Resistenza linea
senza
Tempo di risposta
Avviso
L'omologazione è stata concessa in base ai requisiti per le
applicazioni generali di UL508.
We reserve the right to make changes
PELV o SELV
La corrente dell'unità di alimenta-
zione deve essere limitata ester-
namente a max. 8 A (B1 e B2), o
tramite l'alimentatore stesso o
tramite un fusibile.
2 × 0,3 W
8 A gG
20
20 (16 ingressi fissi e
4 selezionabili)
13 ... 30 V DC
–5 ... +5 V DC
Tipo. 2,3 mA / Max. 6 mA
< 2 mA
10 nF
< 0,1 mAEW
4 (con 4 generatori indipendenti
di segnali di test)
Semiconduttore, push-pull, a
prova di corto circuito
U
- 1,2V
A1
-10 mA (limitata)
Uscita singola: max. 120 mA
Somma di tutte le uscite di test:
max. 120 mA
1 ... 25 Hz, configurabile
1 ... 100 ms, configurabile
1 µF per vuoto di test ≥ 4 ms
0,22 µF per vuoto di test 1 ms
< 100 Ω
4
8 (4 uscite fissi e
4 selezionabili)
a prova di corto circuito
U
≥ U
- 0,6 V
Qn
Bx
≤ 4,0 A
≤ 12 A / 8 ms
Per ciascuna coppia di uscite
(Q1/2, Q3/4, IQ1/2, IQ3/4)
≤ 4,0 A
≤ 2,5 A
≤ 1,6 A
≤ 450 µs
10 Hz
< 0,1 mA
0,5 µF
< 200 Ω
< 0,125 J
Dipendente dalla struttura logica
10/2016 – 50134613 - 24/30
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