Uso del microscopio in RPC (opzionale)
Il Contrasto di Fase a Rilievo (RPC) è una modifica del contrasto di fase convenzionale che porta a miglioramenti visibili
della qualità dell'immagine nella microscopia ottica. In particolare, i seguenti parametri possono essere migliorati: con-
trasto, profondità focale, nitidezza, tridimensionalità, planarità e artefatti da alone. Questi effetti possono essere ottenuti
quando gli anelli di fase del condensatore sono sostituiti da anelli a forma di mezzaluna.
Analogamente all'osservazione in contrasto di fase, l'osservazione RPC richiede l'utilizzo di una slitta contenente gli anelli
di fase a mezzaluna e obiettivi RPC dedicati.
L'utilizzo della slitta e dell'obiettivo sono identici a quelli per contrasto di fase.
Montaggio della slitta per RPC
1.
Inserire la slitta nel gruppo illuminatore, con la parte stam-
pata verso l'alto. (Fig. 30)
2.
Muovere la slitta nella posizione desiderata finché con si
blocca con un click.
3.
Nelle osservazioni in RPC, tenere la levetta di regolazione
del diaframma di apertura ① sulla posizione "O" (aperto).
Slitta RPC
•
Due slitte sono disponibili per l'uso con diversi obiettivi.
•
Una slitta è dedicata all'obiettivo 4X (Fig. 31) e un'altra è per
gli obiettivi 10X/20X/40X. (Fig. 32)
•
Entrambe hanno un foro vuoto e un anello RPC.
POSIZIONE
SIGNIFICATO
SLITTA
VUOTO
foro vuoto
4x
anello RPC 4x
anello RPC
10x/20x/40x
10x/20x/40x
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APPLICAZIONE
osservazione in campo
②
chiaro
osservazione in RPC
③
con obiettivo 4x
osservazione in RPC
con obiettivi 10x, 20x
④
e 40x
①
②
③
②
④
F ig. 30
F
ig. 30
F ig. 31
F
ig. 31
F ig. 32
F
ig. 32
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