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La figura de a continuación muestra los parámetros medidos:
El proceso comienza por la búsqueda automática de las frecuencias resonantes serie y
paralelo. La frecuencia de exploración inicial se toma del valor de frecuencia especificado.
Las frecuencias resonantes se identifican en las singularidades donde la impedancia cambia de
un valor capacitivo puro (valor de fase cerca de -90º) a inductivo puro (valor de fase cerca de +
90º). Las frecuencias de resonancia se obtienen entonces a partir de los puntos de frecuencia
donde el valor de fase es cercano a cero.
Después de determinar la serie y las frecuencias resonantes en paralelo, se mide la resistencia
en serie (Rs) a la frecuencia de resonancia en serie. Entonces se mide la capacitancia en
paralelo (Co). Este valor se mide en una frecuencia que es 2.5 MHz por debajo de Fs o 2.5 MHz
por encima de Fp. A partir de estas mediciones, se deriva el resto de los parámetros:
El valor de capacitancia en serie (Cs) está dada por:
Fp
=
−
Cs
2
Co
1
Fs
El valor de la inductancia en serie (Ls) está dada por:
1
=
(
Ls
2
2
4
Fs
Cs
Finalmente, el factor de calidad del cristal (Q) se calcula por:
1
Ls
=
Q
Rs
Cs
4.2.4
Línea de Transmisión
Esta característica le permite medir de forma automática diferentes parámetros que tienen
que ver con las líneas de transmisión, a saber:
•
La impedancia característica de la línea (Z0)
•
El factor de velocidad
•
Las pérdidas en términos de dB sobre la longitud total de la línea y en dB / 100m
El procedimiento de medición es el siguiente:
Rev. 1.3.16, 6 de abril de 2020
SARK-110
)
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