Olympus Vanta Serie Manual Del Usuario página 88

DMTA-10072-01ES, Rev. A, Febrero 2016
NOTA
No utilice elementos abrasivos a base de silicona para pulverizar materiales
revestidos durante una análisis de silicio.
No es necesario limpiar o pulir completamente todo el material; sin embargo, es
necesario limpiarlo de todo residuo evidente.
Muestras combinadas, materiales heterogéneos
Los acabados en piezas metálicas pueden contener hasta más de un tipo de metal. Es
posible que se requieran análisis de virutas combinadas o de una variedad de piezas
pequeñas. En tales casos, recuerde que el analizador Vanta mide el área cubierta por
la ventana de medición, e informa sobre un valor promedio de la química elemental.
NOTA
Cuando analiza piezas de metales o de soldaduras, asegúrese de que solo el metal de
interés cubra la ventana de medición.
Muestras pequeñas y de forma irregular
Para medir piezas más pequeñas que la de la ventana de análisis, usted debe:
• Incrementar el tiempo de ensayo.
• Maximizar la proximidad del material con la ventana.
Ya que la señal de las piezas pequeñas es inferior en intensidad que aquellas
provenientes de otras muestras (que cubren completamente la ventana), la precisión
de los análisis en las mediciones de pequeñas piezas es reducida. De ser posible,
analizar la parte más grande y plana de un objeto de forma irregular.
NOTA
• Asegúrese de no perforar la ventana del analizador, durante los análisis de piezas
pequeñas y puntiagudas; ya que, estos objetos pueden causar daños que
requieren reparaciones costosas.
80 Capítulo 3