Patriot PS5 Manual De Uso página 20

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1 année de garantie à partir de la date d'achat
Ce produit bénéficie d'une garantie contre tout défaut de matériel ou de fabrication pour une période de 1
année à compter de la DATE D'ACHAT.
Cette garantie couvre les dégâts occasionnés par la foudre.
Ne sont pas couverts les dégâts dus :
à un mauvais traitement
à l'immersion d'eau
à la vermine ou aux insectes
En cas de dommage garanti, veuillez retourner ce produit à un centre SAV agréé accompagné de votre
justificatif d'achat. Pour plus de détails, voir : www.patriotglobal.com/www.tru-test.com.
Note :
-
Aucune responsabilité n'est acceptée en cas d'accident ou de dommage résultant d'une manipulation
incorrecte, d'une modification ou d'une utilisation abusive de ce produit, y compris les altérations (mais
non limité à celles-ci) commises par toute personne ou société autre que Tru-Test Group ou ses
distributeurs agréés.
-
Dans le cadre légal prévu par la loi, cette garantie est exclusive, non transférable et remplace toute autre
garantie, déclaration et condition concernant ce produit (qu'elles soient explicites ou implicites et
qu'importe le moment de la survenue) qu'elles émanent d'une loi, d'une prescription, du secteur
commercial, des us et coutumes, etc.
© 2011 Tru-Test Limited.
All product names and brand names in this document are trademarks or registered trademarks of their respective holders.
No part of this publication may be photocopied, reproduced, stored in a retrieval system, or transmitted in any form or by any means, electronic, mechanical, photocopying, recording or otherwise
without the prior written permission of Tru-Test Limited. Product specifications may change without prior notice.
For more information on other quality Tru-Test Group brands and products, visit www.tru-test.com.
Tru-Test Limited
Postal address:
25 Carbine Road
P O Box 51078
Mt Wellington
Pakuranga
Auckland 1060
Manukau 2140
New Zealand
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Tru-Test Ltd thanks the International Electrotechnical Commission (IEC) for permission to reproduce Information from its International Publication 60335-2-76 ed.2.1 (2006). All such extracts are
copyright of IEC, Geneva, Switzerland. All rights reserved. Further information on the IEC is available from www.iec.ch. IEC has no responsibility for the placement and context in which the extracts
and contents are reproduced by the author, nor is IEC in any way responsible for the other content or accuracy therein.
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