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2. 验证静电计的泄漏是否在制造商规定的可接受限制范围内 .
3. 将井室与静 电计连接 , 并 应用 100% 电压偏置 .
4. 允 许静电计和井室系统至少 10分 钟稳定 , 确保所有 电缆都是平的和 无扭曲的.
5. 验证 井型电离室 室的泄漏是否在制造商规定的可接受的限度内 .
6. 某些静 电计 (如MAX4000静 电计 ) 允 许用户在任何时候将设备设置为零 。 如果需
要 , 请立即执行此系统的调零 .
7. 检查系统泄漏 。 在不暴露房间辐射的情况下进行阅读 。 此读数应少于预期的最终
信号的 0.1%.
8. 测量大气温度和压力 .
9. 打开或插入 辐射源 , 并采取至少3 测量 。 一般来说 , 测量不应该只在一个方向上移
动 (即三 读数继续下降 , 因此可能 还没有稳定 ).
10. 分析数据 时 , 考 虑到读数的平均值 、 系统泄漏 、 温度 / 压力校正 ( 见 6 页 )、校准因
素和要作出的任何其他适当更正。可以使用以下公式:
S
= M
* c
K
原始
在:
S
= 源在 U 中的空气 kerma 强度
K
M
原始
量的电荷刻度 )
= 温度和 压力校正系 数
C
TP
= 静 电计刻度的校准因 数
C
E
= HDR 1000 加校准系数 (在本例中 为空气 kerma 强度校准因子)
N
SK
注意: 如果需要, S
为 1.000, 因此不需要 这样做 .
的
离子
11. 当所有 测量完成时 , 将偏置 电压设置为 0VDC, 关 闭静电计并断开井腔 .
* c
* N
TP
E
SK
= (如果当前刻度) 中的 读数或以 C/s (如果在 s 中 设定的时间测
可以除以一个
K
以 纠正复合效果 。 由于 HDR 1000 Plus
离子
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