Struttura Del Sistema Ottico - Optica 2WAJ Manual De Instrucciones

5.0 FUNZIONAMENTO E STRUTTURA DEL RIFRATTOMETRO
5.1 Indice di rifrazione
L'indice di rifrazione di un materiale è il fattore numerico per cui la velocità di fase di una ra-
diazione elettromagnetica viene rallentata, rispetto alla sua velocità nel vuoto, quando questa
attraversa quel materiale. Quando un raggio di luce passa attraverso due mezzi con indice di
rifrazione diverso, n
tale raggio verrà deviato in base alla legge di rifrazione nota come legge di Snell:
Dove a , è l'angolo di rifrazione misurato rispetto alla normale alla superficie.
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Se un raggio luminoso passa da un mezzo più denso a uno meno denso, si forma un angolo
di incidenza più piccolo rispetto all'angolo di rifrazione. Aumentando l'angolo di incidenza, si
arriverà ad ottenere un angolo di rifrazione pari a 90°. In tal caso, l'angolo di incidenza viene
chiamato angolo critico, oltre il quale ha luogo la riflessione interna totale tanto che non viene
trasmessa luce al secondo mezzo.
Il rifrattometro si basa su questo principio per
determinare gli indici di rifrazione. In esso raggi
luminosi con angoli diversi colpiscono la super-
ficie con angoli di rifrazione sempre superiori
a 90°. Con un telescopio si osserva il raggio
emergente e nel campo visivo dello stesso te-
lescopio si può vedere un'immagine chiara e
scura, divisa da una linea di demarcazione ben
distinta, come illustrato in fig. 2. La linea di de-
marcazione del campo chiaro e di quello scuro
è precisamente la posizione dell'angolo critico.
5.2

Struttura del sistema ottico

Il sistema ottico del presente strumento è composto da sistemi di lettura e telescopici (si veda
fig. 3). Tutte le componenti ottiche e le altre strutture principali, ad eccezione dei prismi e
dell'oculare, si trovano all'interno dell''involucro.
e n , con un angolo di incidenza, a1, non perpendicolare alla superficie,
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SURFACE
BETWEEN MEDIA
NORMAL
Fig.1
Fig.2