Diferencias en operación por función
Función High-speed
El muestreo se lleva a cabo a alta velocidad
de forma que los datos se almacenan
primero en la memoria intermedia interna.
Los datos almacenados en la memoria
intermedia interna se muestran en la
pantalla, se guardan en el medio de
almacenamiento y se imprimen después de
que finaliza la medición.
Inicio
Procesado en orden
de la medición
Muestreo
(Porción de longitud de registro
especificada)
Guardar
Cómo seleccionar la velocidad de muestreo
Ajuste el tiempo por división del eje
horizontal (base de tiempo).
La base de tiempo ajustable más rápida
es 100 µs/div, la cual es 1 MS/s al
convertirse en velocidad de muestreo.
(En la ampliación x1, el número de datos
por división será 100.)
Al modificar los ajustes podrá
ajustar el intervalo de tiempo
para realizar el muestreo, como
se muestra en el lado derecho.
: 1 muestreo
Voltaje de
entrada
1
Periodo de muestreo (1/100 del
tiempo t)
4.2 Métodos de registro (Funciones de medición)
Diferencias en la operación interna
Visualización
Imprimir
1 div
100
tiempo t (t/div)
Función Real-time
El muestreo se realiza a baja velocidad de
modo que se muestre la forma de onda y se
guarde
los
datos
almacenamiento y se imprima* durante el
muestreo.
(*).Puede que no sea posible imprimir al
mismo tiempo en función del ajuste del
eje horizontal.
Inicio de la medición
Muestreo
Visualización
Guardar
Imprimir (*)
Ajuste el intervalo de tiempo para
realizar el muestreo.
El máximo intervalo de muestreo es 100
µs, que es 10 kS/s al convertirse en
velocidad de muestreo.
Valor instantáneo o valor
efectivo (valor RMS)
: 1 muestreo
Intervalo de tiempo
71
en
el
medio
de
Procesado
simultáneamente
4