Tabla de contenido
Publicidad
Tester de componentes
La precisión de la medida automatica por cursores, disminuye
según va aumentando la frecuencia de la señal.
Modo digital en combinación con el modo de medición por
cursores justamente elegida:
• Medición automática por cursores de tensión, tiempo o
frecuencia
• Asociación automática de las líneas de cursores a la señal,
que se utiliza en modo DUAL para el disparo
Nota:
Si no hay señal acoplada o no se puede efectuar el disparo con
una señal, no varían las líneas de los cursores.
Los modos prefijados mediante el AUTO SET sobrescriben
los ajustes manuales de los correspondientes botones.
Ajustes finos que se encontraban en una posición sin calibrar,
se calibran electrónicamente por AUTO SET. Posteriormente
se puede realizar el ajuste nuevamente de forma manual.
Los coeficientes de desvío de 1mV/div. y 2mV/div. no se
seleccionan en modo AUTO SET, a causa del ancho de banda
reducido en estos márgenes.
Atención! Si se tiene conectada una señal con forma de
impulso, cuya relación de frecuencia alcanza un valor
de 400:1 o incluso lo supera, ya no se podrá efectuar un
disparo automático. El coeficiente de deflexión Y es
entonces demasiado pequeño y el coeficiente de
deflexión de tiempo demasiado grande. De ello resultará,
que sólo se visualice el trazo y el pulso ya no será visible.
En estos casos se aconseja cambiar a modo de disparo normal
y posicionar el punto de disparo aprox. 5mm por encima o
debajo del trazo. Si entonces se ilumina el LED de disparo,
se tiene acoplada así una señal. Para visualizar entonces esta
señal, se debe elegir primero un coeficiente de tiempo más
pequeño y posteriormente un coeficiente de deflexión
vertical mayor. Puede entonces ocurrir que la intensidad de
luminosidad del trazo se reduzca tanto, que el pulso se
difícilmente visible.
Sólo en modo digital
En comparación con el modo analógico, en modo digital no
se produce una reducción de la luminosidad del trazo. Pero
se debe tener en cuenta, que también en la máxima
frecuencia de muestreo (200MS/s = 5ns intervalo de
muestreo), las señales en forma de pulso no podrán ser
inferiores a un ancho de pulso de 20ns. Sino se podrá
presentar la señal con una amplitud demasiado pequeña.
Tester de componentes
Las informaciones especificas al aparato que corresponden
al manejo y a las conexiones para las mediciones se describen
en el párrafo CT (46) bajo " Elementos de control y readout".
El osciloscopio lleva incorporado un tester de componentes.
Este se acciona pulsando la tecla CT. El componente a
comprobar se conecta entre el borne aislado CT (a la izquierda
bajo la pantalla) y el borne de masa (37). Con la tecla CT (ON),
se desconecta el preamplificador Y y el generador de barrido.
Sin embargo, pueden permanecer las tensiones de señal en
los tres bornes BNC de la placa frontal, si se comprueban
componentes sueltos de su circuitería. Sólo en ese caso, no
hace falta desconectar sus cables (véase más adelante en
«tests directamente en el circuito»). Aparte de los controles
INTENS., FOCUS y X-POS. los demás ajustes del osciloscopio
no tienen influencia alguna en funcionamiento de test. Para la
conexión entre el componente a verificar y el osciloscopio se
precisan dos cables sencillos con clavijas banana de 4mm.
Reservado el derecho de modificación
Funcionamiento en memoria digital
Como se ha descrito en el párrafo de seguridad, todas las
conexiones de medida (en estado perfecto del aparato) están
conectadas al conductor de protección de red (masa), y por
esto también los bornes del comprobador. Para la
comprobación de componentes sueltos (fuera de aparatos o
de circuitos) esto no tiene ninguna relevancia, ya que estos
componentes no pueden estar conectados al conductor de
tierra.
Si se desean verificar componentes que permanecen incor-
porados en un circuito o en aparatos de test, se debe de
desconectar necesariamente el flujo de corriente y tensión.
Si el circuito queda conectado con la red debe de desco-
nectarse incluso el cable de red. Así se evita una conexión
entre el osciloscopio y el componente a verificar, que podría
producirse a través del conductor de tierra. La comprobación
llevaría a falsos resultados.
¡Sólo se deben comprobar los condensadores en
estado descargado!
El principio de test es muy sencillo. El transformador de red
del osciloscopio proporciona una tensión senoidal con una
frecuencia de 50Hz (±10%). Esta alimenta un circuito en serie
compuesto por el componente a comprobar y una resistencia
incorporada. La tensión senoidal se utiliza para la deflexión
horizontal y la caída de tensión en la resistencia se utiliza para
la deflexión vertical.
Si el objeto de medida tiene un valor real (p.ej. una resistencia),
las dos tensiones tienen la misma fase. En la pantalla aparece
una línea más o menos inclinada. Si el componente a com-
probar presenta un cortocircuito, la raya será vertical. En el
caso de interrupción o cuando no hay objeto de medida,
aparece una línea horizontal. La inclinación de la línea es un
indicador del valor de la resistencia. Con esto se pueden
comprobar resistencias entre 20Ω y 4,7Ωk.
Los condensadores y las inductancias (bobinas, transfor-
madores) provocan una diferencia de fase entre la corriente y
la tensión, así también entre las tensiones de deflexión. De
esto resultan imágenes elípticas. La inclinación y abertura de
la elipse son significativas para la impedancia con frecuencia
de red. Los condensadores se presentan en un margen de
0,1µF-1000µF.
• Una elipse con el eje principal horizontal significa alta
impedancia (capacidad pequeña o inductividad grande).
• Una elipse con el eje principal vertical significa impedancia
pequeña (capacidad grande o inductividad pequeña).
• Una elipse inclinada significa una resistencia de pérdida
relativamente grande en serie con la reactancia.
En semiconductores, los dobles en la curva característica se
reconocen al paso de la fase conductora a la no conductora.
En la medida en que la tensión lo permite, se presenta la
característica directa e inversa (p.ej. de un diodo zener bajo
10V). Siempre se trata de una comprobación en dos polos.
Por eso, p.ej. no es posible comprobar la amplificación de un
transistor, pero sí comprobar las diferentes uniones B-C, B-E,
C-E. Dado que la tensión en el objeto de medida es muy
reducida, se pueden comprobar las uniones de casi todos los
semiconductores sin dañarlos.
Es imposible determinar la tensión de bloqueo o de ruptura
de semiconductores para tensión > 10V. Esto no es una
desventaja, ya que normalmente, en el caso de fallos en el
circuito, éstos producen diferencias notables que dan claras
indicaciones sobre el componente defectuoso.
Se obtienen resultados bastante exactos de la comparación
con componentes correctos del mismo tipo y valor. Esto es
especialmente válido para semiconductores. Por ejemplo
37
Publicidad
Tabla de contenido
