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T e s t e r d e c o m p o n e n t e s
Tester de componentes
Las informaciones específi cas al aparato que corresponden
al manejo y a las conexiones para las mediciones, se descri-
ben en el párrafo COMPONENT/PROBE
TESTER
, bajo „mandos de control y readout".
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El osciloscopio lleva incorporado un tester de componentes.
Para comprobar el objeto bajo medida con el osciloscopio,
se precisan dos cables de medida sencillos, acabados en
conectores de banana de 4 mm. En modo de funcionamiento
de tester de componentes, quedan desconectados los pre-
amplifi cadores verticales y la base de tiempos. Sólo cuando
se esté efectuando comprobaciones a componentes sueltos,
se podrán mantener conectadas las señales de tensión en los
bornes de entradas de los BNC. Al comprobar componentes en
circuitos directamente, estos deberán estar libres de tensiones
y de masa. A parte de los dos cables de medida, no se deberán
tener otros cables de conexión entre el osciloscopio y el circuito
bajo prueba (ver "test directamente en circuitos").
La presentación de imágenes sólo puede variarse mediante
las funciones "A-Int." (intensidad del trazo), "focus" (nitidez del
trazo), "rotación del trazo" y mando HORIZONTAL (posiciona-
miento X), contenidos en el menú de FOCUS/TRACE.
Como se ha descrito en el párrafo de seguridad, todas las
conexiones de medida (en estado perfecto del aparato) están
conectadas al conductor de protección de red (masa), y por esto
también los bornes del comprobador. Para la comprobación
de componentes sueltos (fuera de aparatos o de circuitos)
esto no tiene ninguna relevancia, ya que estos componentes
no pueden estar conectados al conductor de tierra.
Si se desean verifi car componentes que permanecen incorpo-
rados en un circuito o en aparatos de test, se debe desconectar
necesariamente el fl ujo de corriente y tensión. Si el circuito
bajo prueba queda conectado con la red, debe desconectar-
se incluso el cable de red. Así se evita una conexión entre el
osciloscopio y el componente a verifi car, que podría producirse
a través del conductor de tierra. La comprobación llevaría a
falsos resultados.
¡Sólo se deben comprobar los condensadores en
!
estado descargado!
El principio de test es muy sencillo. El transformador de red
del osciloscopio proporciona una tensión senoidal con una
frecuencia de 50 Hz (±10%). Esta alimenta un circuito en serie
compuesto por el componente a comprobar y una resistencia
incorporada. La tensión senoidal se utiliza para la defl exión
horizontal y la caída de tensión en la resistencia se utiliza para
la defl exión vertical.
Si el objeto de medida tiene un valor real (p.ej. una resisten-
cia), las dos tensiones tienen la misma fase. En la pantalla
aparece una línea más o menos inclinada. Si el componente
a comprobar presenta un cortocircuito, la raya será vertical.
En el caso de interrupción o cuando no hay objeto de medida,
aparece una línea horizontal. La inclinación de la línea es
un indicador del valor de la resistencia. Con esto se pueden
comprobar resistencias entre 20 Ω y 4,7 kΩ.
Los condensadores y las inductancias (bobinas, transforma-
dores) provocan una diferencia de fase entre la corriente y la
tensión, así también entre las tensiones de defl exión. De esto
resultan imágenes elípticas. La inclinación y abertura de la
elipse son signifi cativas para la impedancia con frecuencia
22
Reservado el derecho de modifi cación
de red. Los condensadores se presentan en un margen de
0,1 μF – 1000 μF.
–
Una elipse con el eje principal horizontal signifi ca alta
impedancia (capacidad pequeña o inductividad grande).
–
Una elipse con el eje principal vertical signifi ca impedancia
pequeña (capacidad grande o inductividad pequeña).
y COMPONENT
–
Una elipse inclinada signifi ca una resistencia de pérdida
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relativamente grande en serie con la reactancia.
En semiconductores, los dobles en la curva característica se
reconocen al paso de la fase conductora a la no conductora.
En la medida en que la tensión lo permite, se presenta la ca-
racterística directa e inversa (p.ej. de un diodo zener bajo 10 V).
Siempre se trata de una comprobación en dos polos. Por eso,
p.ej. no es posible comprobar la amplifi cación de un transistor,
pero sí comprobar las diferentes uniones B-C, B-E, C-E. Dado
que la tensión en el objeto de medida es muy reducida, se pue-
den comprobar las uniones de casi todos los semiconductores
sin dañarlos. Es imposible determinar la tensión de bloqueo o
de ruptura de semiconductores para tensión >10 V. Esto no es
una desventaja, ya que normalmente, en el caso de fallos en el
circuito, éstos producen diferencias notables que dan claras
indicaciones sobre el componente defectuoso.
Se obtienen resultados bastante exactos de la comparación
con componentes correctos del mismo tipo y valor. Esto es
especialmente válido para semiconductores. Por ejemplo
permite reconocer rápidamente el cátodo de un diodo normal
o zener cuya impresión es ilegible, diferenciar un transistor
p-n-p del tipo complementario n-p-n o averiguar las cone-
xiones B-C-E de un tipo de transistor desconocido.
Obsérvese que, la inversión de los polos de conexión de un
semiconductor con el borne de masa provoca un giro de la
imagen de test de 180°, sobre el centro de la retícula.
Aún más importante es el resultado bueno-malo de compo-
nentes con interrupción o cortocircuito. Este caso es el más
común en el servicio técnico. Se recomienda encarecidamente
actuar con la precaución habitual para el caso de electricidad
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