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Leica Microsystems M844 Serie Manual De Instrucciones página 51

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Declaración del fabricante sobre la compatibilidad electromagnética (CEM)
La base de este documento de directrices y declaración del fabricante es la norma EN 60601-1-2:2001.
Tabla 201 según EN 60601-1-2:2001
Directrices y declaración del fabricante: Emisión electromagnética
Los microscopios quirúrgicos Leica M820 y Leica M844 se han diseñado para ser utilizados en un entorno como el descrito a
continuación. El cliente o el usuario de los microscopios quirúrgicos Leica M820 y Leica M844 deberá asegurarse de que se
utilice en un entorno de esas características.
Medición de emisiones
de interferencia
Emisiones de alta frecuencia
según CISPR 11
Emisiones HF
según CISPR 11
Emisiones de
oscilaciones armónicas
según IEC 61000-3-2
Emisiones de
fluctuaciones de tensión/
Flicker según IEC 61000-3-3
Concordancia
Guía sobre entornos electromagnéticos
Grupo 1
Los microscopios quirúrgicos Leica M820 y Leica M844 utilizan
energía de alta frecuencia exclusivamente para su función interna. Por
este motivo, su emisión de de alta frecuencia es muy limitada y es poco
probable que puedan estropearse los aparatos electrónicos cercanos.
Clase A
Los microscopios quirúrgicos Leica M820 y Leica M844 se han diseñado
para su utilización en instalaciones distintas del área habitable y que
estén conectadas indirectamente a una red de suministro pública que
también de suministro a edificios con viviendas.
Clase A
Coincide
Leica M844 – Leica M820 / Ref. 10 713 294 – Versión C
Directrices y declaración del fabricante
49

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