SKF Microlog GX Serie Manual Del Usuario página 132

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El Módulo Analizador
Cómo efectuar una prueba Bump
Opciones de vista de la Prueba Bump
Ver: utilice este botón de función para determinar la visualización de mediciones de la
prueba bump.
Las opciones Ver para las mediciones de la prueba Bump incluyen:
Para cambiar las configuraciones de mediciones en las pruebas Bump
En la pantalla del Analizador resalte el icono de la Prueba Bump mediante las
teclas de flecha y pulse el botón de función Configuración (o pulse un botón Intro).
Se abre la pantalla de configuración de la medición.
La pantalla por defecto de la Prueba Bump (Vista expandida)
La pantalla de configuración muestra inicialmente una lista "reducida" de los
parámetros de medición, aquellos que son cambiados con más frecuencia por los
analista antes de realizar una medición. La lista completa de parámetros de la pantalla
de configuración puede ser vista usando el botón de función Expandir
Para alterar las configuraciones de las mediciones y luego tomar una medición:
Use las teclas de flechas arriba/abajo para resaltar el parámetro de medición a
cambiar, luego utilice la flecha a la derecha para mostrar las opciones del
parámetro.
Resalte o ingrese la opción deseada, luego presione la tecla flecha izquierda (o el
botón Entrar) para seleccionar la opción resaltada.
4 - 36
FFT para CH1
Cepstrum de potencia para CH1
Especto de potencia para CH1
FFT+Cepstrum de potencia para CH1
FFT+Espectro de potencia para CH1
Tabla de picos para CH1
Figura 4 - 25.
SKF Microlog - GX Series
Manual del usuario

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