La Medición De La Distancia (Telemetría); El Método De Coincidencia (Imagen Doble); El Método De Imagen Partida - Leica MP Manual De Instrucciones

La medición de la distancia (telemetría)
Mediante el telémetro de los tres modelos de
LEICA MP, puede trabajarse con gran precisión,
gracias a una base de medición muy efectiva.
Esto se percibe de manera ventajosa, sobre to-
do, al utilizar objetivos de gran angular, con unas
profundidades de nitidez relativamente grandes.
El mayor aumento en el caso del visor de 0,85
produce, con una base de medición aún más
efectiva un aumento adicional de exactitud:
Base de medición
mecánica (Distancia de
los ejes ópticos de la
ventanilla del visor y de
la ventanilla del
telémetro).
Leica MP con
visor 0,72 x 69.25 mm
Leica MP con
visor 0,85 x 69.25 mm
Leica MP con
visor 0,58 x 69.25 mm
El campo de medición del telémetro se visualiza
en el centro del visor como un rectángulo claro y
bien delimitado. Si se mantiene cerrada la venta-
nilla mayor (14) del visor, permanecen visibles
únicamente el recuadro luminoso reflejado y
este campo de medición. La nitidez puede ajus-
tarse mediante el método de coincidencia de
imágenes o mediante el método de imagen partida:
Aumento x = base de
del visor mediciòn
efectiva
= aprox.
x 0.72 49.9 mm
= aprox.
x 0.85 58.9 mm
= aprox.
x 0.58 40.2 mm
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El método de coincidencia (imagen doble)
En el caso de un retrato, p. ej., enfocar el ojo con
el campo de medición del telémetro y girar el
anillo de ajuste de la distancia del objetivo, hasta
que coincidan los contornos en el campo de
medición. A continuación, establecer el recorte
del motivo.
El método de imagen partida
En el caso de una toma de arquitectura, p. ej.,
enfocar la línea vertical u otra línea vertical defi-
nida con claridad, con el campo de medición del
telémetro, y girar el anillo de la distancia del
objetivo hasta que puedan verse sin asimetría los
contornos del canto o la línea en los límites del
campo de medición. A continuación, establecer
el recorte del motivo.
En la práctica, rara vez se da una separación
clara de ambos métodos de ajuste. Ambos crite-
rios pueden combinarse muy bien.