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6.2
Nivel de integridad de seguridad
El dispositivo de campo ULTIMA MOS-5E se ha sometido a rigurosas evaluaciones de seguridad
funcional y de fiabilidad, en base a las cuales ha sido certificado según la norma IEC 61508, partes
1, 2 y 3, por FM Approvals. La evaluación de fiabilidad consiste en una predicción del índice de fallos
que parte de la base de una temperatura media de 40ºC y un factor ambiental equivalente a "puesta
a tierra fija". Se presupone que el dispositivo de campo se instalará en un sistema de seguridad
instrumentalizado (SIS) que funcione en un entorno de baja demanda según la norma IEC 61508.
Las siguientes tablas muestran los parámetros de SIL para el dispositivo de campo.
ULTIMA MOS-5E
(salida de 4-20 mA)
Certificado FM
Vida útil del producto
(años)*
λ
(fallos por hora)
DD
λ
(fallos por hora)
DU
Proporción de fallos
seguros (SFF)
Nivel de integridad de
seguridad (SIL)**
Intervalo de prueba
de diagnóstico
Tiempo de respuesta
(con gas de escala
completa aplicado)
Probabilidad media
de fallo en
PFD
1oo1** de
med
demanda
*
La vida útil del sensor MOS es de 3 a 5 años por lo general.
** Tolerancia a fallos de hardware (HFT) = 0
*** PFD
1oo1 presupone un tiempo de reparación de 24 horas y un intervalo de prueba
med
de 90 días.
Ambiente limpio
3042476
23
1.1E-5
3.34E-8
>99%
3
1 segundo
Sinterizado
T
< 2 minutos
50
3E-4
Tabla 4: Parámetros de SIL para ULTIMA MOS-5E
23
ULTIMA MOS-5E
Ambiente
contaminado
3042476
21
1.63E-5
1.83E-6
92%
2
1 segundo
Sinterizado
T
< 2 minutos
50
2.4E-3
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