Celestron 44100 Manual De Instrucciones página 27

Figure 2a
Observation d'un échantillon
Placez délicatement une lame d'échantillon sous les leviers à ressorts de la platine (8) et centrez l'échantillon directement sur
l'orifice situé au centre de la platine (5).
Vous pouvez maintenant faire une mise au point et observer l'échantillon, mais vous devez néanmoins prendre certaines précau-
tions pour ne pas endommager la lame porte-objets ou l'objectif. Votre microscope est équipé d'une butée de sécurité (9) qui
vous permet de régler le trajet de la crémaillère sur le dispositif de mise au point. Cette butée est destinée à éviter tout contact
accidentel de l'objectif et de la lame porte-objets afin de ne pas briser la lame ou de rayer l'objectif. Pour régler le trajet sur le
mécanisme de mise au point :
1. Relevez l'objectif en tournant le bouton de mise au point (3) vers l'arrière (sens horaire) pour l'éloigner de la platine (5).
2. Dévissez la vis d'arrêt (9) de la butée de sécurité de la crémaillère sur environ 2/3 de la longueur.
3. Tournez la tourelle (12) jusqu'à ce que l'objectif 40x soit au-dessus de l'échantillon.
4. Abaissez l'objectif sur la lame porte-objets jusqu'à ce que l'extrémité de l'objectif se trouve légèrement au-dessus de la
lame. (Veillez à ne pas toucher la lame porte-objets avec l'objectif).
5. Vissez la vis de sécurité (9) vers le haut jusqu'à ce qu'elle butte contre le mécanisme de mise au point.
6. Tournez le contre-écrou moleté vers le haut pour bloquer la vis de sécurité en position.
Mise au point
Maintenant que la lame porte-objets est placée directement sous l'objectif, utilisez le bouton de mise au point grossière (3) pour
effectuer la mise au point de l'échantillon.
1. Commencez toujours avec la plus basse puissance (objectif 4x) et basculez sur une puissance supérieure en tournant la
tourelle (12) sur les objectifs 10x, puis 40x. Veillez à ne pas laisser l'objectif toucher la lame porte-objets en passant à un
grossissement plus élevé.
2. Utilisez le bouton de mise au point fine (11) pour changer la profondeur de champ et obtenir une mise au point précise de
l'échantillon que vous observez.
3. Si le trajet descendant est insuffisant pour obtenir une mise au point nette, vous pouvez dévissez la vis de sécurité (9) pour
augmenter le trajet vers le bas. Une fois encore, évitez tout contact entre l'objectif et la lame porte-objets.
Condenseur
Diaphgragme à disque
FRANÇAIS I
27