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Cluster
7.12.6
Con los ajustes cluster pueden detectarse acumulaciones de defectos,
cuyos defectos individuales normalmente no tendrían efecto perturbador.
Sin embargo, si los defectos se repiten varias veces dentro de la longitud de
observación ajustada, son perturbadores.
Para poder detectar acumulaciones de defectos periódicos, se define respec-
tivamente una curva cluster en el área de botones, defectos cortos, largos y
delgados. Los defectos que se encuentran fuera de estas curvas se asignan a
los defectos repetitivos.
Cluster botones / corto / largo / delgado
Purgado
Se puede activar o desactivar por separado el purgado por cluster de botones
/ cluster corto / cluster largo / cluster delgado.
Diámetro
Gama de ajuste del diámetro de hilo:
Botones
1.50 – 7.00
Corto
1.10 – 4.00
Largo
1.04 – 2.00
Delgado
-6% – -60%
Longitud
Gama de ajuste de la longitud de referencia:
Corto
1.0 cm – 10 cm
Largo
6.0 cm – 200 cm
Delgado
6.0 cm – 200 cm
Longitud de observación / Defectos
La longitud de observación y el número admisible de defectos puede selec-
cionarse por separado para la detección de cortes de cluster corto, largo y
delgado.
Con estos dos ajustes se determina el número admisible de defectos dentro
de la longitud ajustada.
Límite de alarma
Con este ajuste pueden detectarse bobinas con defectos frecuentes del mis-
mo tipo. Así que se alcance el límite de alarma configurado del tipo de corte
por bobina correspondiente se bloquea el huso.
Defectos actuales
Todos los eventos en las celdas de clase cluster se muestran continuamente
como ayuda de ajuste a través de la longitud de observación indicada.
Manejo de LZE-V
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