IFM O1D106 Instrucciones De Uso página 12

Puntos de conmutación para la función de ventana
nsp2
OUT2
Valores límites con los cuales la salida cambia su estado de conmutación
fsp2
en la función de ventana (objeto presente entre la distancia "próxima" y la
distancia "alejada" / objeto no presente)�
[nSP2] = punto de conmutación "próximo" / [FSP2] = punto de
conmutación "alejado"�
[nSP2] / [FSP2] solo están disponibles cuando [OU2] = [Fno] o [Fnc]�
→ 10.2.10 Puntos de conmutación para la función de ventana OUT2
Punto inicial analógico
Asp
Valor de medición con el cual se emiten 4 mA / 0 V�
[ASP] solo está activo cuando [OU2] = [I] o [U]�
→ 10.2.11 Escalado del rango de medición (salida analógica)
Punto final analógico
Aep
Valor de medición con el cual se emiten 20 mA / 10 V�
[AEP] solo está activo cuando [OU2] = [I] o [U]�
→ 10.2.11 Escalado del rango de medición (salida analógica)
Modo Teach
TeAC
Preselección "frecuencia de muestreo" o "repetibilidad"
→ 10.3 Modo Teach
Funciones avanzadas
EF
Presionando [SET] se abre el submenú "Funciones avanzadas"
→ 10.4 Funciones avanzadas
Tiempo de retardo para las salidas de conmutación
ds1
[dSx] = retardo de activación; [drx] = retardo de desactivación�
La salida no cambia su estado de conmutación de forma inmediata,
dr1
sino una vez transcurrido el tiempo de retardo a la disponibilidad� Si la
conmutación ya no tiene lugar tras el tiempo de retardo, el estado de
ds2
conmutación de la salida no varía�
[dS2] y [dr2] no tienen efecto cuando [OU2] = [I] o [U]�
dr2
→ 10.4.1 Configurar el tiempo de retardo para las salidas de conmutación
Configuración del tiempo de omisión de errores para las
dfo
salidas de conmutación/la salida analógica
Mediante esta función se pueden omitir saturaciones breves del elemento
de medición (este tipo de saturaciones pueden producirse debido a la
reflexión directa o a fuertes fluctuaciones de luminosidad)� Durante el
tiempo configurado se muestra el último valor de medición válido, las
señales de salida permanecen inalterables�
→ 10.4.2 Configurar el tiempo de omisión de errores para las salidas de
conmutación/la salida analógica
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