Perel Tools EAVM360 Manual Del Usuario página 9

d. Test courant CC
1. Connecter le fil noir (-) à la fiche COM, le fil rouge (+) à la fiche + (ou la fiche CC 10 A).
2. Mettre le sélecteur de plage sur la position DCA.
3. Connecter le fil rouge à la polarité positive du circuit à tester et le fil noir à la polarité négative.
4. Lire la valeur sur l'échelle DCV.A en tenant compte de la table de référence.
e. Test tension CA sur la borne de sortie (output)
1. Connecter le fil rouge à la fiche OUTPUT et le fil noir à la fiche - COM.
2. Mettre le sélecteur de plage sur la bonne position. Connecter les fils de mesure au circuit à tester et lire la valeur
sur l'échelle ACV.
Ces tests sont fait pour bloquer la tension CC qui est présente dans le même circuit et doit être éliminée pour que
la tension CA puisse être lue sans composante CC.
f. Test transistor Iceo
1. Connecter les fils aux fiches COM et +.
2. Mettre le sélecteur de plage sur la position x10 (15mA) pour des petits transistors, ou sur la position x1 (150mA)
pour des grands transistors.
3. Ajuster 0Ω ADJ pour mettre l'aiguille à la position zéro de l'échelle Ω.
4. Connecter le transistor au multimètre :
Pour un transistor NPN, connecter la borne « N » du mètre au COLLECTEUR (C) du transistor et la borne « P »
du mètre à l'EMETTEUR (E) du transistor.
Pour un transistor PNP, renverser les connexions du transistor NPN.
5. Lire l'échelle Iceo. Si l'aiguille est dans la zone LEAK ou l'aiguille est au maximum, le transistor testé n'est plus
bon. Dans les autres cas le transistor est bon.
g. Test transistor hFE (amplification CC)
1. Mettre le sélecteur de plage sur la position x 10.
2. Ajuster 0Ω ADJ pour mettre l'aiguille à la position
zéro.
3. Test hFE (amplification CC).
4. Lire l'échelle hFE. La valeur affichée est Ic / Ib, qui est le degré d'amplification CC du transistor testé.
h. Test diode
1. Mettre le sélecteur de plage sur la position choisie :
x 1K pour test 0 - 150 µ A,
x 100 pour test 0 - 1.5 mA,
x 10 pour test 0 - 15 mA,
x 1 pour test 0 - 150 mA.
2. Connecter la diode au mètre.
Pour un test « I » (courant directe), connecter la borne « N » du mètre à la polarité positive (anode) de la diode
F
et la borne "P" du mètre à la polarité négative (cathode) de la diode.
Pour un test « I » (courant inverse), renverser les connexions.
R
3. Lire I ou I sur l'échelle LI.
F R
4. Lire la tension linéaire directe de la diode sur l'échelle LV pendant le test « I
EAVM360
Pour transistor NPN
» ou « I
F
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Pour transistor PNP
».
R
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