®
R&S
FSW
TRK
NOIse
MDepth
TOI
5.1.5
Información sobre la frecuencia y la anchura en frecuen-
cia en el pie de diagrama
El pie del gráfico (situado debajo de este) contiene la información siguiente en
función de la aplicación actual:
Etiqueta
Información
CF
Frecuencia central
Span
Anchura en frecuencia (representación en el dominio frecuencial)
ms/
Tiempo por división (representación en el dominio temporal)
Pts
Número de puntos de barrido o número (redondeado) de los puntos mostra-
dos actualmente en el modo de ampliación
5.1.6
Información sobre el instrumento y su estado
En la barra de estado situada debajo del diagrama se muestran los ajustes glo-
bales del instrumento, su estado y cualquier posible anomalía.
En la pestaña MultiView, la barra de estado siempre muestra la información de la
medición seleccionada en ese momento.
Cómo ocultar la barra de estado
La barra de estado se puede ocultar, p. ej., para agrandar la zona de repre-
sentación de los resultados de medición ("Setup > Display > Displayed
Items"). Véase el manual de usuario para más detalles.
Se visualiza la siguiente información:
Guía rápida de inicio 1312.9420.10 ─ 13
Explicación de la información mostrada en la pantalla
Signal tracking (seguimiento de la señal)
Noise measurement (medición de ruido)
AM modulation depth (profundidad de modulación AM)
Third order intercept measurement (medición de la intercepción de ter-
cer orden)
Manejo del instrumento
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