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Configuración de la Protección
Test TCC Hold Time (Tiempo de Retención de la TCC de Prueba)
El punto de ajuste Test TCC Hold Time controla cuándo están activas las TCC para
Secuencia de Prueba. Cuando el Test TCC Hold Time se haya terminado y siempre que
todos los elementos de las TCC para Secuencia de Prueba estén quietos, las TCC para
Secuencia de Prueba se desativan y las TCC de Disparo Inicial vuelven a activarse. Este
valor de tiempo debe proporcionar a las fallas que se reinician, por ejemplo las ramas de
los árboles, el tiempo adecuado para volver a desarrollarse después de que es reenergi-
zado un circuito. Este valor de tiempo más el tiempo de respuesta máximo de cualquier
TCC para Secuencia de Prueba de Test-n también debería ser menor que el punto de
ajuste Test-n Delay (Retardo de Prueba-n) del interruptor de fallas IntelliRupter de
aguas abajo adyacente. Nota: n = 1 a 4. (Rango: 0.2-300; Paso: 0.1; Predeterminado: 0.8)
Este ajuste debe ser más corto que el tiempo de retardo más corto de la secuencia de
prueba configurado en el dispositivo en línea descendente o de aguas abajo que tenga
la técnica PulseFinding habilitada. S&C recomienda que los mismos tiempos de retardo
sean usados en todos los dispositivos con la técnica PulseFinding habilitada.
Test Delay Time (Tiempo de Retardo de la Prueba)
Ésta es la cantidad de tiempo que está retardada la prueba después de que el umbral
Good Source Voltage Indication (Indicación de Tensión de Fuente Buena) haya
sido cumplido. Este tiempo aplica a todas las secuencias de prueba. (Rango: 0.3-300.1;
Paso: 0.1; Predeterminado: 0.9)
Trip on Test Sequence TCC Low Cutoff (Applies to both Directions for this
Profile) [Disparo en Corte Bajo de TCC de Secuencia de Prueba (Aplica a
ambas Direcciones para este Perfil)]
Cuando está marcada, la función TCC Shifting (Cambio de la TCC) realiza un disparo
instantáneo siempre que la corriente de falla alcanza el ajuste Minimum Trip Level
(Nivel de Disparo Mínimo) de algún elemento configurado para las TCC de Secuencia
de Prueba activas antes de que expire el ajuste Test TCC Hold Time (Tiempo de
Retención de la TCC de Prueba). Todos los ajustes For Close Operations (Para las
Operaciones de Cierre) y For Pulse Operations (Para las Operaciones de Pulso)
(Ver Figura 38 en la página 62) son válidos para la función Trip on Test Sequence
TCC Minimum Pickup (Disparo en Activación Mínima de la TCC de Secuencia
de Prueba). El Low Current Cutoff (Corte de Corriente Baja) de la TCC resultante es el
ajuste Instantaneous Trip Level (Nivel de Disparo Instantáneo) para el ajuste Test
TCC Hold Time. Cuando la Low Current Cutoff de la TCC resultante es configurado a
"N/A" el Minimum Trip Level de la TCC resultante se vuelve el Instantaneous Trip Level
(Nivel de Disparo Instantáneo).
Hoja de Instrucciones de S&C 766-530S
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