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Configuración de la Protección
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Hoja de Instrucciones de S&C 766-530S
El diagrama de temporizado en la Figura 39 muestra la relación entre el punto
de ajuste Test-n Delay Time (Tiempo de Retardo de Prueba-n) en la pantalla
Setup>Protection>General Profile n>Testing After Initial Trip (Configuración>
Protección>Perfil General n>Probar Después del Disparo Inicial), los puntos de ajuste
Test TCC Hold Time y Test Delay Time.
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IR 1
P-TCC
Cambio de TCC
Cerrar
Abrir
IR 2
P-TCC
Cambio de TCC
Cerrar
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IR 3
P-TCC
Cambio de TCC
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IR 4
P-TCC
Cambio de TCC
Leyenda:
TnDT = Test-n Delay Time (Tiempo de
Retardo de la Prueba-n)
TDT =
Test Delay Time (Tiempo de
Retardo de la Prueba)
Figura 39� El ejemplo de temporizado para la técnica PulseFinding con el Cambio de la
TCC; el ajuste del margen no es tomado en cuenta�
Using TCC Shifting With PulseFinding Fault Location (Usar el Cambio de la
TCC con la Ubicación de Falla PulseFinding)
Como se indicó anteriormente, la técnica PulseFinding se utiliza para los interruptores
de fallas IntelliRupter conectados en serie que no pueden ser coordinados en tiempo-
corriente de forma selectiva, habilitando a algunos o a todos para disparar abiertos
cuando ocurren fallas de aguas abajo. La falla se localiza rápidamente por medio de las
operaciones secuenciales de la Tecnología PulseClosing, iniciando en el dispositivo
abierto más cercano a la fuente. Cada dispositivo sucesivo de aguas abajo llevará a cabo
una operación de la Tecnología PulseClosing, no encontrará falla y cerrará rápida-
mente. Pero el dispositivo más cercano a la falla realizará una operación de la Tecnología
PulseClosing, detectará la falla y permanecerá abierto.
En algunas áreas, la vegetación local puede producir fallas conocidas como fallas de
reinicio debido a que éstas requieren tiempo para volver a desarrollarse después de que
un circuito es reenergizado y pueden resultar en que ocurran múltiples secuencias de
la técnica PulseFinding para una sola falla. El cambio de la TCC mitiga esta condición
al asegurar que el dispositivo que está usando la Tecnología PulseClosing tenga una
TnDT
TTHT
TnDT
TDT
TTHT
Sin
TnDT
TDT
volts
Sin
Sin
TnDT
volts
volts
tiempo
TTHT = Test TCC Hold Time (Tiempo de
Retención de la TCC de Prueba)
P-TCC = Previous TCC (TCC Anterior)
TTHT
Disparo usando
Cambio de TCC
TDT
TTHT
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