Descripción General Del Muestreo; Teoría De Muestreo; Escalonamiento - Agilent Technologies InfiniiVision 2000 X Serie Guia Del Usuario

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• En curso — En funcionamiento (a diferencia de en las adquisiciones
Para adquirir datos con la mayor longitud de registro posible, presione la
tecla [Single] Individual.
Si precisa más información sobre las configuraciones que afectan la
longitud de registro, consulte
Descripción general del muestreo
Para comprender los modos de muestreo y adquisición del osciloscopio, es
bueno conocer la teoría de muestreo, el escalonamiento, el ancho de banda
y la tasa de muestra del aparato, el tiempo de elevación, el ancho de
banda requerido y cómo la profundidad de memoria afecta la tasa de
muestra.
Teoría de muestreo
El teorema de muestreo Nyquist afirma que, para una señal de ancho de
banda limitado (limitación de banda) con máxima frecuencia f
frecuencia de muestreo de espaciado uniforme f
doble de la frecuencia máxima f
manera exclusiva sin escalonamiento.

Escalonamiento

El escalonamiento sucede cuando hay submuestreo de señales (f
Este fenómeno es la distorsión de señal generada por frecuencias bajas
reconstruidas de manera falsa a partir de una cantidad insuficiente de
puntos de muestra.
Osciloscopios Agilent InfiniiVision 2000 serie X Guía del usuario
individuales), la memoria se divide a la mitad. Esto permite que el
sistema de adquisición adquiera un registro mientras procesa la
adquisición anterior, lo cual eleva muchísimo la cantidad de formas de
onda que procesa el osciloscopio por segundo. En funcionamiento, una
tasa de actualización de formas elevada ofrece la mejor representación
de la señal de entrada.
f
= f
/2 = frecuencia Nyquist (f
MAX
S
"Control Largo"
en la página 230.
S
para que la señal se reconstruya de
MAX
) = frecuencia de repliegue
N
Control de adquisición
, la
MAX
debe ser superior al
< 2f
S
MAX
11
).
149

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