Índice alfabético
M
medición, 17
Medición, 18
Mediciones
Árbol del proyecto, 26
Mediciones en el dispositivo (tarjeta de memoria),
17
Árbol del proyecto, 27
Medición superpuesta, 18
Árbol del proyecto, 28
Momento de disparo, 33
Muestreo, 72, 77
N
Niveles de registro, 95
O
Opciones de representación, 38, 73
P
Predisparo, 106
R
Reducción, 104
Registro, 17
Repetición automática de la medición, 84
Ruta de destino, 116
S
Selección de señales, 114
Sello de tiempo, 59
Señales, 102
Sincronización horaria, 95
Status, 30
120
T
Tabla de señales, 38
Opciones de representación, 38
Trace del proyecto, 20
Sincronización horaria, 21
Momento de disparo, 21
Dispositivos soportados, 100
Trace en el dispositivo, 17
Trace S7-1200/1500, 93
Transferencia de la configuración Trace desde el
dispositivo, 83
traza de bits, 32
U
Utilizar cursor de medición, 85
Utilizar diagrama de curvas, 85
Utilizar grupo de señales, 88
Utilizar tabla de señales, 87
V
Variable de disparo, 106, 109
Ventana de inspección, 59
Ventana de inspección Trace del proyecto, 69
vida útil de los valores, 94
Uso de la función Trace y de analizador lógico
Manual de funciones, 11/2022, A5E31277294-AH