6
Dati tecnici
6.1
Dati tecnici SP-COP1 / SP-COP2-xxx
Livello di integrità della
sicurezza
Limiti dei requisiti SIL
Categoria
Performance Level (PL)
PFHd (probabilità media di
guasto pericoloso per ora)
T
(Durata di utilizzo)
M
Classe di protezione
Grado di protezione
Temperatura ambiente in
esercizio
Temperatura di immagaz-
zinaggio
Umidità dell'aria
Limite di fatica
Resistenza allo shock
− Shock duraturo
− Schock singolo
Compatibilità elettromagneti-
ca
Interfaccia dati
Interfaccia di configurazione 1 Mini USB
Interfaccia di configurazione 2 RJ45 (soltanto SP-COP2-ENx)
Dimensioni (L × H × P)
Peso
Specifiche di collegamento e dei morsetti
Attacco a vite
Attacco a vite
Attacco a vite
Attacco a vite
A un filo o a filo sottile
A filo sottile con manicotti
terminali secondo EN 46228
Coppia di serraggio max
Attacco a molla
Attacco a molla
Attacco a molla
Attacco a molla
A un filo o a filo sottile
A filo sottile con manicotti
terminali secondo EN 46228
Dimensione conduttore AWG
(utilizzare solo cavi Cu)
Lunghezza di spellatura
Alimentazione per il sistema (A1, A2)
Tensione di alimentazione
Tipo di tensione di alimenta-
zione
Consumo di potenza
Attenzione: Il consumo di
potenza aumenta con ogni
modulo al quale il sistema
viene collegato.
Tempo di inserzione
Protezione contro il corto
circuito
Alimentazione dei gruppi di uscita B1 e B2 (B2: soltanto SP-COP2)
Tensione di alimentazione
Tipo di tensione di alimenta-
zione
Consumo di potenza
24
24
24
24
SP- - - - COP2
SP
SP
SP
COP2- - - - xxx
COP2
COP2
xxx
xxx
xxx
SIL3 (IEC 61508)
SILCL3 (EN 62061)
Categoria 4 (EN ISO 138491)
PL e (EN ISO 138491)
vedere BA000965, Cap. Parametri
tecnici di sicurezza
20 anni (EN ISO 13849)
III (EN 61140)
IP 20 (EN 60529)
–25 ... +65 °C
–25 ... +70 °C
10...95 %, senza condensa
5 Hz ... 150 Hz (EN 6006826)
10 g, 16 ms (EN 60068-2-29)
30 g, 11 ms (EN 60068-2-27)
Classe A (EN 6100062, EN 55011)
Bus di sicurezza interno
45 × 96 × 115 mm
290 g (± 5%)
1 x 0,2–2,5 mm
2
2 x 0,2–1,0 mm
1 × 0,25–2,5 mm² o 2 × 0,25–
1,0 mm²
0,5...0,6 Nm
1 x 0,2 mm² ... 1,5 mm²
1 x 0,25 mm² ... 1,5 mm²
26 - 14 (attacco a vite) 24 - 16
(attacco a molla)
7 mm
24 V DC (16,8 ... 30 V DC)
PELV o SELV
La corrente dell'unità di alimentazio-
ne deve essere limitata esternamente
a max. 4 A, o tramite l'alimentatore
stesso o tramite un fusibile
Max. 3,3 W
Max. 18 s
4 A gG
24 V DC (16,8 ... 30 V DC)
PELV o SELV
La corrente dell'unità di alimentazio-
ne deve essere limitata esternamente
a max. 8 A (B1 e B2), o tramite
l'alimentatore stesso o tramite un
fusibile.
2 x 0,3 W
Protezione contro il corto
circuito
Circuito di ingresso SP-COP1: I1 - I20 SP-COP2-xxx: I1 - I16, IQ1 - IQ4
Numero ingressi SP-COP1:
SP-COP2-xxx:
Tensione di ingresso HIGH
Tensione di ingresso LOW
Corrente di ingresso HIGH
Corrente di ingresso LOW
Capacità di ingresso
Ingresso corrente di ritorno in
caso di interruzione di massa
Uscite di test (T1 - T4)
Numero di uscite
Tipo di uscita
Tensione di uscita HIGH
Corrente di uscita LOW
Corrente di uscita HIGH
Rapporto impulsi di test
(periodo di test)
Durata impulso di test (vuoti
di test)
Capacità di carico
Resistenza linea
Uscite di sicurezza SP-COP1: Q1 - Q4 SP-COP2-xxx: Q1 - Q4, IQ1 - IQ4
Uscite
SP-COP2-xxx:
2
Tipo di uscita
Tensione di uscita HIGH
Corrente di uscita HIGH
Max. corrente di sovraccari-
co / durata
Corrente cumulativa Isum
T
≤ 45 °C
U
T
≤ 55 °C
U
T
≤ 65 °C
U
Test uscite, disattivabile
Larghezza impulsi di prova
Frequenza impulsi di prova
Corrente di dispersione
LOW
Capacità di carico
Resistenza linea
senza
Tempo di risposta
6.2
Certificazioni
TÜV
L'omologazione è stata concessa in base ai requisiti per le applica-
zioni generali di UL508.
8 A gG
20
20 (16 ingressi fissi e 4 selezionabili)
13 ... 30 V DC
–5 ... +5 V DC
Tipo. 2,3 mA / Max. 6 mA
< 2 mA
10 nF
< 0,1 mAEW
4 (con 4 generatori indipendenti di
segnali di test)
Semiconduttore, push-pull, a prova di
corto circuito
U
- 1,2V
A1
-10 mA (limitata)
Uscita singola: max. 120 mA
Somma di tutte le uscite di test: max.
120 mA
1 ... 25 Hz, configurabile
1 ... 100 ms, configurabile
1 µF per vuoto di test ≥ 4 ms
0,22 µF per vuoto di test 1 ms
< 100 Ω
4
Uscite
a prova di corto circuito
U
≥ U
- 0,6 V
Qn
Bx
≤ 4,0 A
≤ 12 A / 8 ms
Per ciascuna coppia di uscite (Q1/2,
Q3/4, IQ1/2, IQ3/4)
≤ 4,0 A
≤ 2,5 A
≤ 1,6 A
≤ 450 µs
10 Hz
< 0,1 mA
0,5 µF
< 200 Ω
< 0,125 J
Dipendente dalla struttura logica