Creando Un Ajuste Ea-100 Usando Los Ajustes Avanzados; Para Crear Un Ajuste Ea-100 Usando Los Ajustes Avanzados - Casio ALGEBRA FX 2.0 PLUS Guia Del Usuario

k Creando un ajuste EA-100 usando los ajustes avanzados
Los ajustes avanzados le proporcionan control total sobre un gran número de parámetros
que puede ajustar creando el ajuste EA-100 que sea adecuado a sus necesidades
particulares.
u Para crear un ajuste EA-100 usando los ajustes avanzados
El procedimiento siguiente describe los pasos generales para usar los ajustes avanzados.
Para mayor información, refiérase a las páginas que se indican.
1. Visualice el menú principal E-CON.
2. Presione 1(SETUP). Esto visualiza el submenú "Setup EA-100".
3. Presione c(Advan). Esto visualiza el menú de ajustes avanzados.
4. Si desea configurar una sonda personalizada en este punto, presione f(Custom
Probe). Luego, siga los pasos indicados en la parte titulada "Para configurar una sonda
personalizada comenzando desde el menú de ajustes avanzados" en la página 4-2-12.
• También puede configurar una sonda personalizada durante el procedimiento descrito
en la parte titulada "Para cambiar los ajustes del parámetro Channel" en la página 4-2-6.
• Las configuraciones de sonda personalizada que ha almacenado en la memoria pueden
seleccionarse usando "Channel" en el paso 5, a continuación.
5. Utilice las teclas de función de ajustes avanzados que se describen a continuación para
ajustar otros parámetros.
• b(Channel) .... Visualiza una pantalla para ajustar los parámetros siguientes: canal
• c(Sample) ..... Visualiza una pantalla para ajustar los parámetros siguientes:
• d(Trigger) ...... Visualiza una pantalla para las condiciones de inicio (disparador) de
• e(Option) ....... Visualiza una pantalla para realizar los ajustes de ventana de
4-2-4
Ajustes EA-100
de muestreo, sensor, configuración de muestreo y ubicación de
almacenamiento para los datos de muestreo (página 4-2-5).
ajustes en tiempo real, intervalo de muestreo, número de muestras,
método de registro de tiempo de medición y ubicación de
almacenamiento para los registros de tiempo de medición (página
4-2-7).
muestreo de ajuste (página 4-2-8).
visualización, ajustes en tiempo real (canal para muestreo en
tiempo real) y ajustes de filtro (página 4-2-10).
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