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Prueba de máscara
/* Region Number */ 3 /* Number of vertices */ 6 -05.00,
0.500 02.50,
/* Region Number */ 4 /* Number of vertices */ 5 10.00,
500 15.00,
/* Region Number */ 5 /* Number of vertices */ 5 -10.00, -1.000 -12.50, -
0.500 -15.00, -0.500 -15.00, -1.500 -12.50, -1.500
/* Region Number */ 6 /* Number of vertices */ 6 -05.00, -1.000 -02.50, -
0.500 02.50, -0.500 05.00, -1.000 02.50, -1.500 -02.50, -1.500
/* Region Number */ 7 /* Number of vertices */ 5 10.00, -1.000 12.50, -0.
500 15.00, -0.500 15.00, -1.500 12.50, -1.500
/* Region Number */ 8 /* Number of vertices */ 4 -12.50,
1.750 10.00, -1.750 12.50,
setup :MTES:ENAB 1 :CHAN1:RANG +4.00E+00;OFFS +0.0E+00;COUP DC;IMP ONEM;D
ISP 1;BWL 0;INV 0 :CHAN1:LAB "1";UNIT VOLT;PROB +1.0E+00;PROB:SKEW +0.0E+
00;STYP SING :CHAN2:RANG +16.0E+00;OFFS +1.62400E+00;COUP DC;IMP FIFT;DIS
P 0;BWL 0;INV 0 :CHAN2:LAB "2";UNIT VOLT;PROB +1.0E+00;PROB:SKEW +0.0E+00
;STYP SING :CHAN3:RANG +40.0E+00;OFFS +0.0E+00;COUP DC;IMP ONEM;DISP 0;BW
L 0;INV 0 :CHAN3:LAB "3";UNIT VOLT;PROB +1.0E+00;PROB:SKEW +0.0E+00;STYP
SING :CHAN4:RANG +40.0E+00;OFFS +0.0E+00;COUP DC;IMP ONEM;DISP 0;BWL 0;IN
V 0 :CHAN4:LAB "4";UNIT VOLT;PROB +1.0E+00;PROB:SKEW +0.0E+00;STYP SING :
EXT:BWL 0;IMP ONEM;RANG +5E+00;UNIT VOLT;PROB +1.0E+00;PROB:STYP SING :TI
M:MODE MAIN;REF CENT;MAIN:RANG +50.00E-09;POS +0.0E+00 :TRIG:MODE EDGE;SW
E AUTO;NREJ 0;HFR 0;HOLD +60E-09 :TRIG:EDGE:SOUR CHAN1;LEV -75.00E-03;SLO
P POS;REJ OFF;COUP DC :ACQ:MODE RTIM;TYPE NORM;COMP 100;COUNT 8;SEGM:COUN
E 0;INKS 1;PAL NONE;LAY PORT :SAVE:FIL "mask_0" :SAVE:IMAG:AREA GRAT;FACT
OCK 1 :MTES:AMAS:SOUR CHAN1;UNIT DIV;XDEL +3.00000000E-001;YDEL +2.000000
00E-001 :MTES:SCAL:BIND 0;X1 +0.0E+00;XDEL +1.0000E-09;Y1 +0.0E+00;Y2 +1.
00000E+00 :MTES:RMOD FOR;RMOD:TIME +1E+00;WAV 1000;SIGM +6.0E+00 :MTES:RM
OD:FACT:STOP 0;PRIN 0;SAVE 0 end_setup
¿Cómo se hacen las pruebas de máscaras?
Los osciloscopios InfiniiVision empiezan a probar la máscara mediante la
creación de una base de datos de 200 x 640 para el área de visualización
de la forma de onda. Cada ubicación de la matriz se designa como una
violación o una zona de paso. Cada vez que un punto de datos de una
forma de onda se produce en una zona de violación se registra un fallo. Si
se seleccionó Probar todo, se prueba cada canal analógico activo con la base
de datos de máscara para cada adquisición. Se pueden registrar más de
2 mil millones de fallos por canal. La cantidad de adquisiciones probadas
también se registra y se presenta como "N.° de pruebas".
El fichero de máscara permite una resolución mayor que la base de datos
de 200 X 640. Se realiza cuantización de datos para reducir los datos del
fichero de máscara y que entren en la pantalla.
300
0.500 05.00,
0.500 15.00,
2 :DISP:LAB 0;CONN 1;PERS MIN;SOUR PMEM1 :HARD:APR "";AREA SCR;FACT 0;FF
0;FORM NONE;INKS 0;PAL COL :SAVE:WAV:FORM NONE :MTES:SOUR CHAN1;ENAB 1;L
1.000 02.50,
1.500 12.50,
MIN
Osciloscopios Agilent InfiniiVision 4000 serie X Guía del usuario
1.000 -02.50,
1.500 -02.50,
1.500
1.000 12.50,
1.500
0.
MIN -10.00, -
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