Texas Instruments TI-Nspire Guía De Referencia página 168

tTest (pruebaT)
Para H : m < m0, configure Hipot <0
a
Para H : m ƒ m0 (predeterminado), configure
a
Hipot =0
Para H : m > m0, configure Hipot >0
a
Para obtener información sobre el efecto de
los elementos vacíos en una lista, vea
"Elementos vacíos (inválidos)" (página 209).
Variable de salida
stat.t
stat.ValP
stat.df
stat. x
stat.ex
stat.n
tTest_2Samp (pruebaT_2Muest)
tTest_2Samp Lista1 , Lista2 [, Frec1 [, Frec2
[, Hipot [, Agrupado ]]]]
(Entrada de lista de datos)
tTest_2Samp v 1 , sx1 , n1 ,v 2 , sx2 , n2 [, Hipot
[, Agrupado ]]
(Entrada de estadísticas de resumen)
Resuelve una prueba T de dos muestras. Un
resumen de resultados se almacena en la
variable stat.results (página 154).
Pruebe H : m1 = m2, contra uno de los
0
siguientes:
Para H : m1< m2, configure Hipot <0
a
Para H : m1ƒ m2 (predeterminado),
a
configure Hipot =0
Para H : m1> m2, configure Hipot >0
a
Agrupado = agrupa las varianzas
1
168 Listado alfabético
Descripción
( x N m 0) / (desvest / sqrt(n))
Nivel más bajo de significancia en el cual la hipótesis nula se puede rechazar
Grados de libertad
Media de muestra de la secuencia de datos en
Desviación estándar muestra de la secuencia de datos
Tamaño de la muestra
Catálogo >
Lista
Catálogo >