Diagnóstico De Errores; Información Importante; Mensajes De Error - SICK VISIC620 Instrucciones De Servicio

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DIAGNÓSTICO DE ERRORES
6 Diagnóstico de errores
6.1 Información importante
6.2

Mensajes de error

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I N S T R U C C I O N E S D E S E R V I C I O | VISIC620
ADVERTENCIA: Radiación láser
Es posible que debido a un defecto de hardware (raro) aumente la potencia de láser. En
este caso, el láser se clasificará como categoría 3B.
▸
No exponer al haz láser.
Mensaje Descripción/causa
Error del hardware en la EEPROM
EEPROM def.
Es posible que no se haya cargado
ningún conjunto de parámetros durante
una actualización del software.
Durante la última medición de
Shutter
transmisión ha fallado el obturador.
Defecto en la calefacción de cristales
que está conectada con alambres
Heater Wh
blancos en la tarjeta de conductores
(fibra óptica).
Defecto en la calefacción de cristales
que está conectada con alambres
Heater Bn
marrones en la tarjeta de conductores
(láser).
Defecto en la calefacción de cristales
que está conectada con alambres
Heater Gy
grises en la tarjeta de conductores
(obturador).
Defecto en la calefacción de cristales
Heater Pk que está conectada con alambres rosas
en la tarjeta de conductores (receptor).
Defecto en la calefacción que está
conectada con alambres negros en la
Heater Bk
tarjeta de conductores (carcasa del lado
de receptor).
El valor determinado durante la
medición de transmisión más reciente
se encuentra por debajo del E
L que se ha inscrito en la ficha
IMIT
M
AINTENANCE
Low Transm. M
EASUREMENT
Posibles causas:
– Ensuciamiento u objeto en el
camino óptico
– La potencia del láser ya no puede
ajustarse posteriormente
Diodo monitor fuera de rango (2.0 V -
4.5 V)
Mon range Posibles causas:
– Degradación del láser
– Defecto del láser
RROR
-> T
RANSMISSION
.
Remedio
▸
Se requerirá reparación por parte de
SICK.
▸
En SOPAS, en la ficha R
ESET
clic en R P .
ESET ARAMETER
▸
Reparación por parte de SICK.
▸
Controlar si los conectores están
enchufados correctamente en la
tarjeta de conductores; de ser esto
el caso, será necesario que SICK
ejecute una sustitución.
▸
Eliminar el ensuciamiento de los
cristales o los objetos en el camino
óptico.
▸
Controlar los valores L
ASER
M en la ficha D
ONITOR IAGNOSIS
D . V (véase "Comprobación
IAG ALUES
de los valores de medición internos",
página 28) y, en caso necesario, dis-
poner la reparación por parte de
SICK (sustitución del láser).
▸
Disponer la sustitución por parte de
SICK.
8013652/19KF/V1-8/2021-06 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
, hacer
C y
URRENT
->