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Datos de fiabilidad según EN 61508
Descripción
Nivel de seguridad
Arquitectura
Tipo de aparato
Tolerancia de fallos de hardware
Tasa total de inactividad para fallos peligrosos no detectados
Tasa total de inactividad para fallos peligrosos detectados
Porcentaje de fallos no peligrosos
Intervalo de comprobación
Probabilidad de un fallo peligroso a petición
Nivel de cobertura de diagnóstico. Porcentaje de fallos peligrosos
detectados por un test.
Tiempo medio hasta el fallo peligroso
Intervalo de diagnóstico
Nivel de rendimiento (conforme a ISO 13849)
Probabilidad de fallo peligroso
por hora
Temperatura ambiente como base de cálculo
Tiempo medio de reparación
Factor de fallo de causa común para fallos peligrosos no detectables
Factor de fallo de causa común para fallos peligrosos detectables
Fig. 4
NRG 26-61 - Manual de instrucciones - 819944-00
Parámetros
SIL 2
1oo1
Tipo B
HFT = 0
λ
= < 20 * 10
-9
1/h
DU
λ
= < 2000 * 10
1/h
-9
DD
SFF > 99,0 %
T1 = 1 año
PFD < 100 * 10
-6
DC > 98,0 %
MTTF
> 30 a
D
T2 = 1 hora
PL = d
PFH < 20 * 10
1/h
-9
Tu = 60 °C
MTTR = 0 (sin reparación)
beta = 2 %
beta d = 1 %
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