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1. Presentación del analizador de difracción de rayos X BTX II
El analizador de sobremesa BTX II de Olympus, con las tecnologías integradas de difracción
de rayos X (XRD, por sus siglas en inglés) y de fluorescencia de rayos X (XRF, por sus siglas
en inglés), está diseñado para analizar principalmente una variedad de muestras de polvo.
La identificación de fase es obtenida mediante la comparación de la actividad energética de
una muestra/sustancia —durante el análisis de difracción de rayos X— con los patrones
minerológicos de difracción de rayos X de la base de datos. A su vez, la fluorescencia de
rayos X (XRF) permite una inspección sencilla durante el proceso de identificación de fase,
la cual permite descartar extrañas incertidumbres.
El analizador BTX II utiliza una fuente de rayos X de baja tensión y un detector CCD (sensor
de carga integrada o, en inglés, Charge Coupled Device) bidimensional para obtener datos de
difracción de rayos X. Éste también cuenta con una fuente de rayos X de baja tensión y
un detector de deriva de silicio (DDS) para obtener datos de fluorescencia de rayos X.
La identificación típica de un solo mineral o de una mezcla (simple) se ejecuta en tan sólo
algunos minutos de integración.
El analizador BTX II incorpora los siguientes sistemas autónomos de protección y seguridad:
• Conmutador de llave para activación/desactivación: la llave debe ser introducida en el
conmutador. Al ser girada a la posición de activación (ON), el analizador se
enciende/activa.
• Indicadores de advertencia de rayos X: los indicadores luminosos LED parpadean
cuando los rayos X están siendo emitidos y, también, durante la secuencia de activación
del analizador.
• Fijación de bloqueo del portamuestras: si el portamuestras es retirado cuando
el analizador está en funcionamiento, la fuente de tensión interrumpe tanto su operación
como la producción de rayos X.
1.1
Lista de componentes
La siguiente tabla lista los componentes del analizador de difracción de rayos X BTX II
(véase la Tabla 3 en la página 12).
DMTA-10031-01ES — Rev. B — Abril de 2014
Presentación del analizador de difracción de rayos X BTX II 11
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