Apéndice A: Especificaciones; Tabla 12 Especificaciones Del Analizador Btx Ii - Olympus BTX II Manual Del Usuario

Apéndice A: Especificaciones
Las características de funcionamiento del analizador de difracción de rayos X BTX difieren
según la temperatura de operación. El analizador BTX II consume más energía en ambientes
con temperaturas elevadas, ya que ejecuta el enfriamiento del detector CCD de rayos X.
Parámetros
Resolución XRD
Rango XRD
Resolución de energía XRF 250 eV a 5,9 keV
Rango de energía XRF
Tipo de detector
Tamaño de partícula de
muestra
Cantidad de muestra
Ánodo de tubo de rayos X cobre (Cu) (cobalto [Co] opcional)
Tensión del tubo de
rayos X
Corriente del tubo de rayos
X
Almacenamiento de datos
Conexión inalámbrica
Temperatura de
funcionamiento
Peso
Dimensiones

Tabla 12 Especificaciones del analizador BTX II

Especificaciones
anchura de media altura (FWHM, por sus siglas en inglés) de
0,25° en función de 2θ
5–55° en función de 2θ
3 a 25 keV
1024 × 256 píxeles con sensor de carga acoplada (CCD o
charge-coupled device) a efecto Peltier bidimensional
pulido de <150 μm (tamiz de 100 a 150 μm)
~15 mg
30 kV
330 μA
40 GB disco duro interno reforzado
802.11b/g (permite el control a distancia desde el navegador
web).
–10 °C a 35 °C
12,5 kg
30 cm × 17 cm × 47 cm (11,8 pulg. × 6,9 pulg. × 18,5 pulg.)
DMTA-10031-01ES — Rev. B — Abril de 2014
Especificaciones 49