Pestaña Settings (Es. Ajustes) - Olympus BTX II Manual Del Usuario

Tabla 10 Tipos de archivos disponibles (continuación)
Nombre de
archivo
nn-film.TXT
nn-ka.mdi
nn-ka.TIF
nn-ka.TXT
nn-thresh.TIF
nn-thresh.TXT
nn-xrf.TXT
Plot.gnuplot
4.3.3 Pestaña Settings (es. Ajustes)
En la pestaña Settings (es. Ajustes) es posible modificar los valores predefinidos de
adquisición de datos o de crear y personalizar modos de análisis. Esto permite modificar
los valores predefinidos de adquisición de datos para crear un conjunto de parámetros
analíticos que será designado esencialmente a la aplicación manual. Por ejemplo, la relación
entre la señal y el ruido mejora con la suma de análisis adicionales. Por ello, materiales de
Definición
Datos genéricos de análisis de
difracción en función del doble
del ángulo de Bragg (2θ).
Datos de análisis de difracción
específicos en función del doble
del ángulo de Bragg (2θ) para
importarlos hacia el software
«Jade». Estos han sido
adquiridos gracias a
la transición en notación
Siegbahn Ka1 del cobalto que
ha sido separada del espectro.
Archivos de imágenes para
los datos de muestras. Estos
muestran sólo la línea de
radiación Ka del cobalto.
Datos genéricos de análisis de
difracción en función del doble
del ángulo de Bragg (2θ). Estos
utilizan sólo la línea de
radiación Ka del cobalto.
Archivos de imágenes de los
datos del umbral. Este incluye
sólo radiación línea Ka
del cobalto y de fotones
superiores.
Archivos de datos del umbral
Este incluye datos de la línea de
radiación Ka del cobalto de
fotones superiores.
Cuenta con los datos de las
intensidades XRF según el nivel
de energía y la configuración de
pasos de la cámara.
Es utilizado por la interfaz del
usuario del software BTX II
DMTA-10031-01ES — Rev. B — Abril de 2014
Uso
Es utilizado con la mayoría de software
dotados de patrones de difracción
correspondencia.
Es utilizado con el software de
correspondencia de patrones MDI Jade
(véase nn-ka.TXT)
Es utilizado para determinar
la orientación preferencial o
la estadística de muestra inadecuada.
Es utilizado cuando las muestras
cuentan con un alto nivel de
fluorescencia de rayos X. Este modo
acepta sólo los fotones de difracción de
la línea de radiación Ka del cobalto
Es utilizado para determinar los datos
discriminados según los ajustes
del umbral.
Es utilizado cuando las muestras
cuentan con alto nivel de fluorescencia
de rayos X. Este modo acepta solo
los fotones superiores de difracción a
la línea de radiación Ka del cobalto.
Es utilizado para tratamiento
cualitativo y cuantitativo XRF
Ningún uso
Interfaz del usuario del software BTX II 41