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a
Ajuste del límite de movimiento con el mando de
4
ajuste grueso del enfoque
Esta función evita la colisión entre la muestra y el objetivo y
simplifica el enfoque.
Después de enfocar la muestra con el mando de ajuste grueso
del enfoque, si gira la palanca de preenfoque a en la dirección
de la flecha para bloquearlo, el límite superior del mando de ajuste
grueso del enfoque se fija en la posición bloqueada.
En caso de que quiera volver a enfocar después de sustituir la
muestra, eleve el mando de ajuste grueso del enfoque hasta el
tope y enfoque la muestra. A continuación, ajuste la muestra con
precisión utilizando el mando de ajuste fino del enfoque.
Nota: la platina no está bloqueada con el mando de ajuste fino del
enfoque y puede moverse.
Si se bloquea la palanca de preenfoque, la platina no
NOTA
baja al límite inferior.
Método para encontrar fácilmente el punto focal
5
a
aproximado
Cuando se desconoce el grosor de la muestra
1
Gire el mando de ajuste grueso del enfoque para bajar la platina al
límite inferior.
2
Mueva la platina de forma que el centro de la platina quede en delante
de la escala a .
3
Coloque la muestra en el centro de la platina.
4
Gire el mando de ajuste grueso del enfoque para elevar la platina de
modo que la superficie superior de la platina quede a 0 mm de la
escala a cuando se mire la muestra horizontalmente.
5
Ponga el área de la muestra que desea observar debajo del objetivo.
Cuando se conozca el grosor de la muestra
1
Coloque la muestra sobre la platina.
2
Gire el mando de ajuste grueso del enfoque para mover la platina de
modo que la superficie superior de la platina se sitúe en la posición
"grosor de la muestra" de la escala a .
Si se combina con el adaptador de altura (BX3M-ARMAD),
NOTA
la escala no está disponible.
BX53M
25
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