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Vista de conjunto
a Panel
de conexión a la red
b Panel de servicio
c Panel de conexiones
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Descripción
El aparato de rayos X es un equipo completo controlado por
microprocesador para ser utilizado en numerosos experimen-
tos del área de Física y otras disciplinas conexas. En el límite
entre la Física y la medicina se llevan a cabo experimentos
sobre la transmisión de rayos X en objetos y su observación
sobre la pantalla luminiscente o en una película para rayos X,
así como también experimentos sobre ionización y dosimetría.
En el área de física los experimentos comprenden temas
desde la Física atómica hasta la Física del estado sólido.
En el aparato de rayos X se puede ajustar manualmente todos
los parámetros con lectura de los mismos en un visualizador
digital. Los dos brazos del goniómetro de dos circuitos (incluido
en el volumen de suministro del 554 811) pueden ser
desplazados individualmente o en un acoplamiento 2:1 de
forma manual o automática. Como "sensor" se utiliza
normalmente un contador Geiger-Müller en el brazo del sensor
y como "blanco" un cristal, un difusor o un absorbedor en el
brazo del blanco, pivoteándolo o girándolo respectivamente.
Adicionalmente se ha incorporado un medidor de tasas para el
tubo contador Geiger-Müller. Esto permite utilizar al aparato de
rayos X como unidad "stand-alone" (autónoma), conectada a
un ordenador mediante una interfaz serie RS232 o a un
registrador XY.
d Recinto del tubo
(con tubo de rayos X)
e Recinto de
experimentación
(aquí con goniómetro)
Pantalla luminiscente
f
g Canal vacío
h Pulsador de seguridad
Con del aparato de rayos X se pueden realizar los siguientes
experimentos.
• Transmisión y fotografía con rayos X
• Ionización y dosimetría
• Atenuación de rayos X en función del material y espesor
• Espectro continuo y líneas características, estudio de
fuentes de rayos X
• Estructura fina y modelo de capas del átomo
• Absorción dependiente de la energía y cantos K
• Ley de Moseley y determinación de la frecuencia de
Rydberg
• Efecto Compton
• Duane-Hunt (determinación de la constante de Planck a
partir de las longitudes de onda límites)
• Reflexión
de
Bragg
interplanares en diferentes cristales
• Patrones de Laue y de Debye-Scherrer para estudiar las
estructuras cristalinas
• Difractometría
de
rayos
policristalinas y muestras en polvo, textura
Instrucciones de servicio 554 811
Bases
i
k Asideros
para el transporte
para
determinar
las
distancias
X
en
láminas
metálicas
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