E S P A Ñ O L
Nota:
• Los cables de prueba pueden aumentar de
0,1 Ω a 0,3 Ω como error en la medición de la
resistencia. Para obtener lecturas con precisión
en mediciones de baja resistencia en un rango
de 200 Ω, provoque un corto circuito en la
terminal de entrada y grabe la lectura obtenida
(llame a esta lectura X).
• (X) Es la resistencia adicional de los cables de
prueba.
Realice la ecuación: valor de la medición de
la resistencia (Y) - (X) = lectura de medición
precisa.
• Para mediciones de alta resistencia (>1M), es
normal tomar algunos segundos para obtener
una lectura estable.
• Cuando la medición de la resistencia se ha
completado, desconecte la conexión de los
cables de prueba y el circuito de prueba.
14
E.
Diodo y prueba de continuidad
(Figura 5)
Prueba de Diodos
Advertencia
Para evitar daños en el multímetro o
al mecanismo de prueba, desconecte
el centro de poder y descargue el alto
voltaje de los capacitadores antes de los
diodos.
Use la prueba de diodo para verificar los
diodos, transistores y algún otro mecanismo
semiconductor. La prueba de diodo envía la
corriente a través del empalme del semiconductor
y después la medición del voltaje baja a través del
empalme.
Un buen empalme de silicón baja entre 0,5 V y
0,0 V.