1MRK 505 181-UES C
3.4.4.2
3.4.4.3
Tabla 14:
TESTMODE Ajustes sin grupo (básicos)
Nombre
Valores (rango)
TestMode
EventDisable
CmdTestBit
3.4.5
3.4.5.1
Manual de Aplicaciones
Directrices de ajuste
Recuerde que existen dos maneras posibles de poner el IED en el estado "Test
mode: On" (modo de prueba: activado). Si el IED está ajustado para
funcionamiento normal (TestMode = Off), pero todas las funciones siguen en modo
de prueba, la señal de entrada INPUT del bloque funcional TESTMODE podría
activarse en la configuración.
Parámetros de ajuste
Unidad
Off
-
On
Off
-
On
Off
-
On
Bloqueo de cambios CHNGLCK
Aplicación
La función de bloqueo de cambios CHNGLCK se utiliza para bloquear cambios
adicionales en la configuración del IED una vez terminada la puesta en servicio. El
objetivo es impedir la realización de cambios involuntarios en la configuración del
IED después de cierto momento.
Sin embargo, cuando se activa, CHNGLCK permite los siguientes cambios en el
estado del IED, que no implican su reconfiguración:
•
Monitoring (monitorización)
•
Reading events (lectura de eventos)
•
Resetting events (reposición de eventos)
•
Reading disturbance data (lectura de datos de perturbaciones)
•
Clear disturbances (eliminación de perturbaciones)
•
Reset LEDs (reposición de LED)
•
Reset counters and other runtime component states (reposición de contadores y
otros estados de componentes con tiempo de ejecución)
•
Control operations (control de operaciones)
•
Set system time (ajuste de la hora del sistema)
•
Enter and exit from test mode (entrada y salida del modo de prueba)
•
Change of active setting group (cambio de grupo de ajustes activo)
Etapa
Predeterminado
-
Off
-
Off
-
Off
Sección 3
Aplicación del IED
Descripción
Modo de prueba en funcionamiento (On)
o no (Off)
Evento inhabilitado durante modo de
prueba
Bit de orden para prueba requerida o no
durante modo prueba
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