3 TECHNISCHE SPECIFICATIES
Alle oppervlakprofielsondes voor gewelfde substraten zijn uitgevoerd met
een vervangbare, robuuste kop van wolfram (geschikt voor 20.000
metingen) en zijn verkrijgbaar met een standaard of gepantserde kabel.
De sondes zijn voorzien van een testcertificaat, glazen nulplaat en
kalibratiefolies; nominale waarden 125 μm (5 mil) & 500 μm (20 mil).
Er zijn tevens oppervlakprofielsondes voor vlakke substraten
verkrijgbaar – neem contact op met Elcometer of ga naar
www.elcometer.com voor meer informatie.
Bereik
Resolutie
Nauwkeurigheid
Artikelnummer
T224C500UX
T224C500UXARM
Artikelnummer
T224C500UX
T224C500UXARM
Toepasselijke patenten: GB2505193, US9261345
†
www.elcometer.com
0 - 500μm (0 - 20mils)
1μm (0,1mil)
±5% of ±5μm (±0,2mil)
Sonde ontwerp
Sonde voor profielmeting van
convexoppervlakken: standaard
Sonde voor profielmeting van
convexoppervlakken: gepantserd
Minimale sonde
ruimte
135mm (5,31")
175mm (6,89")
†
Minimale pijp
diameter
75mm (3")
75mm (3")
R
nl-2