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Capítulo 2
Definición y mantenimiento de componentes de alimentación eléctrica
82
Resistencia compuerta-cátodo de SCR
Una prueba que puede realizarse en los SCR pero no puede realizarse en los
SGCT es una prueba de resistencia compuerta-cátodo. La medición de
resistencia compuerta-cátodo identifica daños en un SCR que revela ya sea una
conexión compuerta-cátodo abierta o en cortocircuito. Para probar un
rectificador controlado de silicio de compuerta a cátodo, desconecte los
conductores de la compuerta del rectificador controlado de silicio desde la
tarjeta del driver de compuerta de autoactivación, y mida la resistencia
compuerta-cátodo en el conector Phoenix de la tarjeta de disparo del
rectificador controlado de silicio.
Figura 75 - Prueba compuerta-cátodo de SCR
Desconecte de la
tarjeta el conector
SCR Phoenix
El valor de resistencia compuerta-cátodo debe estar entre 10...20 Ω. Un valor
cercano a 0 Ω indica que hay un cortocircuito interno en el SCR. Un valor
extremadamente alto indica que se rompió la conexión de la compuerta en el
dispositivo.
Si la prueba compuerta-cátodo revela que hay un SCR dañado, consulte la
página 85
para conocer el procedimiento de reemplazo del SCR.
Publicación de Rockwell Automation 7000-UM202G-ES-P - Abril 2022
Puntos de prueba de compuerta a cátodo
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