Rockwell Automation Allen-Bradley 1734-IB8S Manual De Instalacion Y Uso página 93

Publicación 1734-UM013B-ES-P – Junio 2009
Cómo configurar el módulo en un controlador GuardLogix
4. Asigne de la fuente de prueba para cada entrada de seguridad
en el módulo que desee someter a la prueba de impulso.
Elija
None
Test Output 0
a
Test Output 1
Test Output 2
(a)
Test Output 3
a. Las salidas de prueba 1 y 3 tienen incorporada una funcionalidad muting opcional.
5. Asigne el tiempo de retardo de entrada, Desactivado -> Activado
(0...126 mseg, en incrementos de 6 mseg).
Tiempo de filtro para la transición de Desactivado a Activado. La
entrada debe ser en HI después de transcurrido el retardo de
entrada antes de que sea configurado como lógica 1. El tiempo
de retardo está configurado por canal; cada canal está
específicamente puesto a punto para coincidir con las
características del dispositivo de campo para obtener el máximo
rendimiento.
6. Asigne el tiempo de retardo de entrada, Desactivado -> Activado
(0...126 mseg, en incrementos de 6 mseg).
Tiempo del filtro para la transición de Activado a Desactivado.
La entrada debe ser LO después de transcurrido el retardo de
entrada antes de que sea configurado como lógica 0. El tiempo
de retardo está configurado por canal; cada canal está
específicamente puesto a punto para coincidir con las
características del dispositivo de campo para obtener el máximo
rendimiento.
7. Desde el cuadro Input Error Latch Time, introduzca el intervalo
en que el módulo retiene un error para asegurarse de que el
controlador lo pueda detectar (0...65,530 mseg, en incrementos
de 10 mseg – predeterminado en 1000 mseg).
Esto le permite tener diagnósticos más confiables y mejorar las
posibilidades de detección de errores no deseados. El propósito
de enclavar los errores de entrada es garantizar que los fallos
intermitentes que pudieran ocurrir durante unos pocos
milisegundos sean enclavados durante un tiempo suficiente que
le permita al controlador detectarlos. El tiempo necesario para
Descripción
Si la prueba de impulso se realiza en un punto de
entrada, se debe seleccionar la fuente de prueba
que está generando los 24 V para el circuito de
entrada.
Si ingresa la fuente de prueba incorrecta, se
producen fallos de prueba de impulso sobre ese
circuito de entrada.
Capítulo 6
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