Tabla de contenido
Publicidad
Tester de componentes
Sólo en modo digital
En comparación con el modo analógico, en modo digital no se
produce una reducción de la luminosidad del trazo. Pero se debe
tener en cuenta, que también en la máxima frecuencia de
muestreo (200 MS/s = 5 ns intervalo de muestreo), las señales
en forma de pulso no podrán ser inferiores a un ancho de pulso
de 20 ns. Sino se podrá presentar la señal con una amplitud
demasiado pequeña.
Tester de componentes
Las informaciones especificas al aparato que corresponden al
manejo y a las conexiones para las mediciones se describen en
el párrafo CT [46] bajo " Elementos de control y readout".
El osciloscopio lleva incorporado un tester de componentes.
Este se acciona pulsando la tecla CT. El componente a comprobar
se conecta entre el borne aislado CT (a la izquierda bajo la pantalla)
y el borne de masa [37]. Con la tecla CT ON, se desconecta el
preamplificador Y y el generador de barrido. Sin embargo, pueden
permanecer las tensiones de señal en los tres bornes BNC de la
placa frontal, si se comprueban componentes sueltos de su
circuitería. Sólo en ese caso, no hace falta desconectar sus
cables (véase más adelante en «tests directamente en el circuito»).
Aparte de los controles INTENS., FOCUS y X-POS. los demás
ajustes del osciloscopio no tienen influencia alguna en
funcionamiento de test. Para la conexión entre el componente a
verificar y el osciloscopio se precisan dos cables sencillos con
clavijas banana de 4mm.
Como se ha descrito en el párrafo de seguridad, todas las
conexiones de medida (en estado perfecto del aparato) están
conectadas al conductor de protección de red (masa), y por esto
también los bornes del comprobador. Para la comprobación de
componentes sueltos (fuera de aparatos o de circuitos) esto no
tiene ninguna relevancia, ya que estos componentes no pueden
estar conectados al conductor de tierra.
Si se desean verificar componentes que permanecen incor-
porados en un circuito o en aparatos de test, se debe de
desconectar necesariamente el flujo de corriente y tensión. Si el
circuito queda conectado con la red debe de desconectarse
incluso el cable de red. Así se evita una conexión entre el
osciloscopio y el componente a verificar, que podría producirse a
través del conductor de tierra. La comprobación llevaría a falsos
resultados.
¡Sólo se deben comprobar los condensadores en estado
descargado!
El principio de test es muy sencillo. El transformador de red del
osciloscopio proporciona una tensión senoidal con una frecuencia
de 50 Hz (±10%). Esta alimenta un circuito en serie compuesto
por el componente a comprobar y una resistencia incorporada. La
tensión senoidal se utiliza para la deflexión horizontal y la caída de
tensión en la resistencia se utiliza para la deflexión vertical.
Si el objeto de medida tiene un valor real (p.ej. una resistencia),
las dos tensiones tienen la misma fase. En la pantalla aparece una
línea más o menos inclinada. Si el componente a comprobar
presenta un cortocircuito, la raya será vertical. En el caso de
interrupción o cuando no hay objeto de medida, aparece una línea
38
horizontal. La inclinación de la línea es un indicador del valor de la
resistencia. Con esto se pueden comprobar resistencias entre
20 Ω y 4,7 kΩ.
Los condensadores y las inductancias (bobinas, transfor-
madores) provocan una diferencia de fase entre la corriente y la
tensión, así también entre las tensiones de deflexión. De esto
resultan imágenes elípticas. La inclinación y abertura de la elipse
son significativas para la impedancia con frecuencia de red. Los
condensadores se presentan en un margen de 0,1 µF – 1000 µF.
G
Una elipse con el eje principal horizontal significa alta
impedancia (capacidad pequeña o inductividad grande).
G
Una elipse con el eje principal vertical significa impedancia
pequeña (capacidad grande o inductividad pequeña).
G
Una elipse inclinada significa una resistencia de pérdida
relativamente grande en serie con la reactancia.
En semiconductores, los dobles en la curva característica se
reconocen al paso de la fase conductora a la no conductora. En
la medida en que la tensión lo permite, se presenta la característica
directa e inversa (p.ej. de un diodo zener bajo 10 V). Siempre se
trata de una comprobación en dos polos. Por eso, p.ej. no es
posible comprobar la amplificación de un transistor, pero sí
comprobar las diferentes uniones B-C, B-E, C-E. Dado que la
tensión en el objeto de medida es muy reducida, se pueden
comprobar las uniones de casi todos los semiconductores sin
dañarlos.
Es imposible determinar la tensión de bloqueo o de ruptura de
semiconductores para tensión >10 V. Esto no es una desventaja,
ya que normalmente, en el caso de fallos en el circuito, éstos
producen diferencias notables que dan claras indicaciones sobre
el componente defectuoso.
Se obtienen resultados bastante exactos de la comparación con
componentes correctos del mismo tipo y valor. Esto es
especialmente válido para semiconductores. Por ejemplo permite
reconocer rápidamente el cátodo de un diodo normal o zener cuya
Reservado el derecho de modificación
Publicidad
Tabla de contenido
