Medición De Muestras De Referencia - Omron ZX-E Serie Guia De Instalacion

Sección 4
PRINCIPALES APLICACIONES Y MÉTODOS DE CONFIGURACIÓN
Medición de muestras de referencia
La altura de la muestra de referencia se mide mediante teaching de posición y el resul-
tado se registra como el valor de umbral HIGH.
El valor registrado se convierte en la referencia del valor de umbral establecido en el
paso
Consulte la sección 5, Configuración detallada, para obtener más información acerca
de la configuración.
Teaching de posición, pág. 91
La altura de la muestra de referencia también se puede establecer en 0.
Ajuste de los valores de discriminación de tolerancia
Consulte el umbral HIGH registrado en el paso
inferior (umbrales HIGH y LOW) para una discriminación PASS (OK).
Los resultados de discriminación HIGH, PASS y LOW se producirán en función de los
valores de umbral especificados.
Consulte la sección 5, Configuración detallada, para obtener más información acerca
de la operación.
Introducción directa de los valores umbrales, pág. 90
ZX-E
62
Manual de operación
.
Uso de la función de puesta a cero, pág. 119
Resultado de medida
Resultado de medida > Umbral HIGH
Umbral LOW ≤ Resultado de medida ≤ Umbral HIGH
Umbral LOW > Resultado de medida
y configure los límites superior e
Discriminación
HIGH
PASS
LOW