Protocolo De Calibración Multipunto Para La Conductividad De La Muestra - SUEZ Sievers M500 Manual De Operación Y Mantenimiento

P
ROTOCOLO DE CALIBRACIÓN MULTIPUNTO PARA LA CONDUCTIVIDAD DE LA MUESTRA
Protocolo de calibración multipunto para la
conductividad de la muestra
1.0 I
NTRODUCCIÓN
Ejecute el siguiente protocolo de calibración multipunto para la conductividad de la
muestra a fin de calibrar el Analizador de TOC Sievers Serie M500.
2.0 A
LCANCE
Este procedimiento corresponde al Analizador de TOC Sievers Serie M500.
3.0 M
ATERIALES
NOTA: Utilice sólo los estándares Sievers adquiridos en SUEZ.
3.1 Analizador de TOC Sievers Serie M500
3.2 Hoja de trabajo de calibración multipunto para la conductividad de la muestra
3.3 Set de calibración multipunto para conductividad
3.3.1 Un vial — Cond. 100 µS/cm
3.3.2 Un vial — Cond. 146,9 µS/cm
3.3.3 Un vial — Cond. 718 µS/cm
3.3.4 (Opcional cuando se utiliza el sistema Super iOS) SUEZ recomienda el
set de lavado para enjuagar antes, después o antes y después de
ejecutar el protocolo.
4.0 D
EFINICIONES
4.1 N
INGUNA
5.0 P
ROCEDIMIENTO
5.1 (OPCIONAL) Si está habilitado DataGuard, inicie la sesión en el analizador
con el ID Usuario y la Contraseña apropiados.
5.2 Si el analizador está tomando mediciones, pulse Detener análisis (Stop
Analysis
5.3 Exporte la configuración actual del sistema para tener una referencia futura o
volver a cargarla mediante los pasos en "Guardar configuraciones del
sistema", en la página 222.
Analizadores de TOC Sievers M500
DLM 78500-01 ES Rev. A
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Manual de Operación y Mantenimiento
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