SUEZ Sievers M500 Manual De Operación Y Mantenimiento página 250

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Capítulo 6
AL IBRACIÓN Y P RO TO CO L O S D E SI S TEM A
5.4 Haga una copia de seguridad de la base de datos y de los ajustes mediante
los pasos en "Copia de seguridad de la base de datos y ajustes", en la página
223.
5.5 En la pantalla Protocolos de sistema
5.6 Seleccione Calibración multipunto de conductividad de la muestra, luego
pulse Iniciar.
5.7 Si utiliza un sistema iOS convencional, vaya al paso 5.9.
5.8 Si utiliza un sistema Super iOS, siga las instrucciones para las opciones de
drenaje y enjuague (descritas en "Drenaje y enjuague del sistema Super iOS",
en la página 228).
5.8.1 Aparece el cuadro de diálogo Introducir... (Please insert...).
5.8.2 Introduzca el set de calibración multipunto de conductividad y pulse Set
de vial listo (Vial Set ready) > Continuar; luego vaya al paso 5.8.9.
Si utiliza viales individuales, no los introduzca. Pulse Set de vial listo
(Vial Set ready) > Continuar. Consulte "Uso de viales individuales en el
sistema Super iOS", en la página 229, para obtener más información.
Analizadores de TOC Sievers M500
DLM 78500-01 ES Rev. A
, pulse el menú Calibración.
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