SUEZ Sievers M500 Manual De Operación Y Mantenimiento página 8

Analizador de carbono orgánico total
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Manejo de los estándares . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 226
Deshabilitar la copia de seguridad automática. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 227
Después de la calibración . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 227
Drenar/enjuagar el sistema Super iOS. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 228
Uso de viales individuales en el sistema Super iOS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 229
Calibración de un solo punto de TOC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 231
Protocolo de calibración multipunto de TOC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 236
Protocolo de autocero para conductividad de TC/IC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 257
Protocolo de calibración del autocero de TOC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 260
Protocolo de autocero para conductividad de la muestra . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 263
Protocolo de adecuabilidad del sistema. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 266
Protocolo de verificación de exactitud y precisión . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 270
Protocolo de verificación de la calibración de celda. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 274
Protocolo de verificación de la conductividad de la muestra . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 280
Protocolo de verificación de la resistencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 285
Protocolo de linealidad del TOC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 288
Protocolo de verificación de la robustez. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 296
Protocolo de verificación de la especificidad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 300
Protocolo de adecuabilidad del SDBS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 305
Protocolo de adecuabilidad del SDBS con conductividad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 309
Protocolo de linealidad de la conductividad de la muestra . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 315
Protocolo del LOD/LOQ del TOC en línea (opcional) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 326
Revisión del historial de calibración y verificación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 329
Hoja de trabajo para la calibración de un solo punto de TOC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 331
Hoja de trabajo de la calibración multipunto de TOC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 333
Hoja de trabajo de autocero para conductividad de TC/IC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 339
Hoja de trabajo del autocero de TOC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 341
Hoja de trabajo para la verificación de exactitud y precisión . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 345
Hoja de trabajo de verificación de la calibración de celda . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 347
Hoja de trabajo de verificación de la resistencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 349
Hoja de trabajo para la adecuabilidad del sistema. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 351
Hoja de trabajo de linealidad del TOC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 353
Hoja de trabajo del protocolo de especificidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 355
Hoja de trabajo del protocolo de robustez . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 357
Hoja de trabajo para la adecuabilidad del SDBS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 359
Analizadores de TOC Sievers M500
DLM 78500-01 ES Rev. A
Manual de Operación y Mantenimiento
8 / 468
SUEZ © 2020

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