R
8
点
平 基体
粗 基体/两点
点 移
自动
7
型
描述
B, S,
单点
— 用于平 基体 面,
T
仪
自动
E, B,
两点
—用户选择合 的
S, T
E, B,
用于粗 或 型基体, 用两个已知厚 的膜片, 一个 于, 另一个
S, T
于 测涂层的厚
S, T
用于
形、粗
义 移值用来测量读
S, T
用于重复测量,用户 已知
时,用户 据屏幕提示
值——
膜片和平 、 涂层基体
不明或
膜片厚 值存 仪 ,当开
仪 ,仪
过程简单、快捷
头 在 有涂层的基体上,
近的基体涂层厚 ,用户自
自动调整存 的膜片厚
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