Estrutura De Dados De Processos; Eliminação De Falhas - SICK W4F Instrucciones De Uso

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  • ESPAÑOL, página 74
40.4

Estrutura de dados de processos

41
Eliminação de falhas
8025304 / 2021-05-12 | SICK
Subject to change without notice
NOTA
Para muitas aplicações, (por exemplo, comutações erradas se formam devido a inver‐
sões na reflexão), é recomendado desajustar levemente o alinhamento entre o emissor
e o receptor ou reduzir significativamente a reserva operacional. Por meio de um
teach-in (via IO-Link ou por meio da tecla Teach na carcaça), a WSE4F pode suprimir
comutações erradas sob estas condições. Simultaneamente é reduzida a reserva ope‐
racional.
NOTA
Não acionar a tecla Teach-in com objetos pontiagudos.
Para o ajuste da distância de comutação através de IO-Link, por favor consulte o
manual de instruções anexo, IO-Link Photoelectric sensors.
O sensor está ajustado e operacional.
WEO4Fx-xxxxxx00A00:
Sensor sem possibilidade de ajuste: sensor está ajustado e operacional.
WSE4FP-xxxxxxxxAxx:
A00
A70
IO-Link
Process
data
Bit 0/ Data
type
Bit 1/ Data
Q
L2
type
Bit... /
2...15 /
Descrip‐
[empty]
tion / Data
type
Bit... /
Descrip‐
tion / Data
type
A tabela Eliminação de falhas mostra as medidas a serem executadas, quando o
sensor não estiver funcionando.
COLOCAÇÃO EM OPERAÇÃO
A71
A72
V1.1
2 Byte
Byte 0 : Bit 15... 8
Byte 1: Bit 7... 0
Q
/ Boolean
L1
/ Boolean
Qint.1 /
Boolean
2...15 /
2 ... 15 /
2 ... 15 /
[Time
[Counter
[Length /
measure‐
value] /
speed
ment
UInt 14
measure‐
value] /
ment] /
UInt 14
SInt14
A73
A75
4 Byte
Byte 0 : Bit 31...
24
Byte 1: Bit 13... 16
Byte 2: Bit 15... 8
Byte 3: Bit 7... 0
Q
/ Boo‐
Qint.1 / Boolean
L2
lean
2 /
2...7 / [empty]
Qint.1 /
Boolean
3 ... 15 /
8 ... 31 / [Carrier
[Time
load] / UInt 24
measure‐
ment
value] /
UInt13
40
55

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