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T e s t e r d e c o m p o n e n t e s
cuando no hay objeto de medida, aparece una línea horizontal. La
inclinación de la línea es un indicador del valor de la resistencia. Con
esto se pueden comprobar resistencias entre 20 Ω y 4,7 kΩ.
Los condensadores y las inductancias (bobinas, transformadores)
provocan una diferencia de fase entre la corriente y la tensión, así
también entre las tensiones de defl exión. De esto resultan imágenes
elípticas. La inclinación y abertura de la elipse son signifi cativas
para la impedancia con frecuencia de red. Los condensadores se
presentan en un margen de 0,1 μF – 1000 μF.
–
Una elipse con el eje principal horizontal signifi ca alta impedancia
(capacidad pequeña o inductividad grande).
–
Una elipse con el eje principal vertical signifi ca impedancia
pequeña (capacidad grande o inductividad pequeña).
–
Una elipse inclinada signifi ca una resistencia de pérdida relati-
vamente grande en serie con la reactancia.
En semiconductores, los dobles en la curva característica se reco-
nocen al paso de la fase conductora a la no conductora. En la medida
en que la tensión lo permite, se presenta la característica directa e
inversa (p.ej. de un diodo zener bajo 10 V). Siempre se trata de una
comprobación en dos polos. Por eso, p.ej. no es posible comprobar
la amplifi cación de un transistor, pero sí comprobar las diferentes
uniones B-C, B-E, C-E. Dado que la tensión en el objeto de medida
es muy reducida, se pueden comprobar las uniones de casi todos los
semiconductores sin dañarlos. Es imposible determinar la tensión
de bloqueo o de ruptura de semiconductores para tensión > 10 V.
Esto no es una desventaja, ya que normalmente, en el caso de fallos
en el circuito, éstos producen diferencias notables que dan claras
indicaciones sobre el componente defectuoso.
Se obtienen resultados bastante exactos de la comparación con
componentes correctos del mismo tipo y valor. Esto es especial-
mente válido para semiconductores. Por ejemplo permite reconocer
rápidamente el cátodo de un diodo normal o zener cuya impresión
es ilegible, diferenciar un transistor p-n-p del tipo complementario
n-p-n o averiguar las conexiones B-C-E de un tipo de transistor
desconocido.
Obsérvese que, la inversión de los polos de conexión de un semicon-
ductor con el borne de masa provoca un giro de la imagen de test de
180°, sobre el centro de la retícula.
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Reservado el derecho de modifi cación
Aún más importante es el resultado bueno-malo de componentes
con interrupción o cortocircuito. Este caso es el más común en
el servicio técnico. Se recomienda encarecidamente actuar con
la precaución habitual para el caso de electricidad estática o de
fricción en relación con elementos sueltos MOS. Pueden aparecer
tensiones de zumbido en la pantalla, si el contacto base o gate de un
transistor está desconectado, es decir, que no se está comprobando
(sensibilidad de la mano).
Los test directamente en el circuito son posibles en muchos casos,
aunque no son tan claros. Por conexión paralela con valores reales
y/o complejos, especialmente si estos tienen una resistencia baja
con frecuencia de red, casi siempre resultan grandes diferencias
con elementos sueltos. También aquí muchas veces resulta útil la
comparación con un circuito intacto, si se trabaja continuamente con
circuitos idénticos (servicio técnico). Este trabajo es rápido, ya que
no hace falta (¡y no se debe!) conectar el circuito de comparación.
Los cables de test se colocan sucesivamente en los puntos de cont-
rol idénticos y se comparan las imágenes en la pantalla. Es posible
que el mismo circuito a comprobar disponga de un circuito para la
comparación como por ejemplo en canales estéreo, funcionamiento
de contra-fase, conexiones de puentes simétricos. En caso de duda
se puede desoldar una conexión del componente. Esta conexión
se conecta con el borne CT sin señal de masa, ya que entonces se
reducen las perturbaciones de zumbido. El borne con la señal de
masa está conectado con la masa del osciloscopio. Por esto no es
sensible al zumbido.
Al comprobar directamente en el circuito, es preciso desconectar
los cables de medida y sondas atenuadoras conectadas al circuito.
Si no, ya no se podrían analizar libremente los puntos de medida
(doble conexión de masa).
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