Campo Del Contorno De Referencia - SICK nanoScan3 I/O Instrucciones De Uso

7.9

Campo del contorno de referencia

Figura 40: Campo del contorno de referencia
Herramienta para diseñar los campos del contorno de referencia
1
Contorno diseñado con margen de tolerancia
2
Campo del contorno de referencia
3
8024598/15VP/2019-11-15 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
Evaluación múltiple tras conmutación del caso de supervisión n
nearse una vez un objeto tras lo cual reacciona el escáner láser de seguridad. La
reacción más rápida y el comportamiento más seguro del escáner láser de seguri‐
dad.
• Robusto
Evaluación múltiple tras conmutación del caso de supervisión n
luación múltiple tras conmutación del caso de supervisión es una exploración
menor que la evaluación múltiple aplicable por lo demás. Reduce la probabilidad
de que los insectos, las chispas de soldadura u otras partículas den lugar a que la
máquina se apague. Aumenta la disponibilidad de la máquina. En el campo nuevo
se aplica desde el principio el tiempo de respuesta normal.
• Definido por el usuario
La evaluación múltiple tras conmutación del caso de supervisión se ajusta con‐
forme a sus necesidades en lo relativo al tiempo de respuesta y la robustez. Inde‐
pendientemente del número aquí ajustado, la evaluación múltiple tras conmu‐
tación del caso de supervisión es siempre al menos una exploración menor que la
evaluación múltiple aplicable por lo demás: n
Resumen
CONFIGURACIÓN
= 1. Debe esca‐
CS
= n –1. La eva‐
CS
≤ n –1
CS
I N S T R U C C I O N E S D E U S O | nanoScan3 I/O
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