Sección 10 Diagnosticar Estado De Ied; Encontrar La Causa De Un Fallo Interno; Lectura De Eventos Internos; Encontrar Funciones Disponibles - ABB RET 670 Manual Del Operador

1MRK504087-UES B
Sección 10
10.1
10.1.1
10.1.2
RET 670
Manual del operador
Diagnosticar estado de IED
Acerca de este capítulo
En este capítulo se explica en qué lugar del árbol de la IHM hay que buscar la
causa de un fallo interno en el IED e información sobre el IED como tal.

Encontrar la causa de un fallo interno

Lectura de eventos internos

Diagnósticos/Eventos internos
La opción Eventos internos del menú Diagnósticos del árbol de la IHM muestra
una lista de eventos con marca cronológica. Se trata de eventos internos del IED
que pueden utilizarse como referencia a la hora de localizar y resolver problemas
en el sistema.

Encontrar funciones disponibles

La opción General del menú Estado IED muestra la operatividad y el estado
funcional de tarjetas y aplicaciones.
Diagnósticos/Estado IED/General
Mensajes como Activado, Listo o Fallo indican el estado de cada elemento en la lista.
Para identificar el tipo de IED, desplácese hasta los identificadores utilizando el
teclado. A continuación se muestra la ruta hasta los parámetros de identidad.
Diagnósticos/Estado IED/Identificadores producto
La opción Identificadores producto muestra información sobre el tipo de IED, su
función principal, su número de serie, su número de pedido y su fecha de fabricación.
La opción de menú que se indica a continuación muestra una lista con la
configuración de todo el hardware presente en el IED.
Diagnósticos/Estado IED/HW instalado
La lista incluye el número de ranura, el nombre del módulo (tarjeta) y su número
de artículo.
Sección 10
Diagnosticar estado de IED
65